光模块的温度测试装置的制作方法

技术特征：
1.一种光模块的温度测试装置，其特征在于，所述温度测试装置应用于待测试的光模块，所述光模块包括第一光模块面和第二光模块面，所述温度测试装置包括：密封外罩；顶部控温模块和底部控温模块，所述顶部控温模块和底部控温模块位于所述密封外罩内部，所述顶部控温模块位于所述底部控温模块上方，所述顶部控温模块和所述底部控温模块在进行温度测试时位于光模块的两侧；光模块测试板，所述光模块测试板设置于所述密封外罩内，所述光模块测试板上设置有光模块测试接口，光模块测试接口用于插入待测试的光模块，插入的待测试的光模块位于所述顶部控温模块和底部控温模块之间；下压机构，所述下压机构贯穿所述密封外罩的顶部并与所述顶部控温模块机械连接，所述下压机构用于带动所述顶部控温模块升降，以使得在所述光模块进行温度测试时，所述顶部控温模块和所述底部控温模块夹紧所述光模块，以使所述光模块的第一光模块面与所述顶部控温模块热传导接触，所述光模块的第二光模块面与所述底部控温模块热传导接触。2.根据权利要求1所述的光模块的温度测试装置，其特征在于，所述顶部控温模块包括第一供电单元和第一控温单元，所述第一控温单元上依次设置有第一隔热板、第一半导体制冷器和第一导热板；所述第一供电单元用于若温度测试为高温测试时，向第一半导体制冷器输入反向电流，以使得所述第一半导体制冷器靠近所述光模块的一侧通过热传导接触对第一导热板升温，直至所述第一导热板上升至目标高温测试温度。3.根据权利要求2所述的光模块的温度测试装置，其特征在于，所述第一隔热板和所述第一半导体制冷器之间还依次设置有第一加热片和第一水冷板；所述第一加热片用于在高温测试时，对第一水冷板进行加热。4.根据权利要求3所述的光模块的温度测试装置，其特征在于，所述第一供电单元还用于若温度测试为低温测试时，向所述第一半导体制冷器输入正向电流，以使得所述第一半导体制冷器靠近所述光模块的一侧通过热传导接触对所述第一导热板降温，直至所述第一导热板降温至目标低温测试温度；所述第一水冷板用于进行低温冷却液循环，所述低温冷却液用于降低所述第一半导体制冷器远离所述光模块的一侧的温度。5.根据权利要求2所述的光模块的温度测试装置，其特征在于，所述底部控温模块包括第二供电单元和第二控温单元，所述第二控温单元上依次设置有第二隔热板、第二半导体制冷器和第二导热板；所述第二供电单元用于若温度测试为高温测试时，向第二半导体制冷器输入反向电流，以使得所述第二半导体制冷器靠近所述光模块的一侧通过热传导接触对第二导热板升温，直至所述第二导热板上升至目标高温测试温度。6.根据权利要求1所述的光模块的温度测试装置，其特征在于，所述密封外罩上设置有充气口与排气口，所述充气口用于向所述密封外罩内部充入干燥气体，所述排气口用于排出所述密封外罩内的水汽。7.根据权利要求1所述的光模块的温度测试装置，其特征在于，所述下压机构包括设置
于所述密封外罩顶部的气阀，以及在所述密封外罩内部的气缸，所述气阀用于通过所述气缸带动所述顶部控温模块升降。8.根据权利要求1至7任一项所述的光模块的温度测试装置，其特征在于，所述密封外罩上设置有操作口，所述温度测试装置还包括光模块托架，所述光模块托架用于将所述光模块从所述操作口插入到所述光模块测试接口上。9.根据权利要求8所述的光模块的温度测试装置，其特征在于，所述光模块托架的材质包括：聚四氟乙烯。10.根据权利要求8所述的光模块的温度测试装置，其特征在于，所述光模块托架长度为光模块的长度的两倍。

技术总结
本申请实施例涉及光模块高低温测试技术领域，具体涉及一种光模块的温度测试装置，本申请的温度测试装置包括：密封外罩，设置于密封外罩内的顶部控温模块、底部控温模块和光模块测试板，以及贯穿密封外罩的顶部并与顶部控温模块机械连接的下压结构，光模块测试板上设置有光模块测试接口，光模块测试接口用于插入待测试的光模块，插入的待测试的光模块位于顶部控温模块和底部控温模块之间，下压机构用于带动顶部控温模块升降，以使得顶部控温模块和底部控温模块夹紧光模块，以进行热传导接触。本申请实施例旨在保证光模块上下两面的热传导效率，提升光模块的升降温效率，且避免压缩空气导致的高能耗。空气导致的高能耗。空气导致的高能耗。


技术研发人员：马超 唐朋 黄秋元 周鹏
受保护的技术使用者：武汉普赛斯电子技术有限公司
技术研发日：2022.10.14
技术公布日：2022/11/11