指纹检测方法、装置及终端设备与流程

技术特征：
1.一种指纹检测方法，其特征在于，包括：根据指纹感测区域的厚度获取采集电路的多个电路参数；根据多个电路参数采集多个初始指纹图像；获取与每个初始指纹图像对应的多个加权系数矩阵；以及基于所述多个加权系数矩阵将所述多个初始指纹图像叠加以得到目标指纹图像。2.根据权利要求1所述的指纹检测方法，其特征在于，还包括：将指纹感测区域划分为多个子区域。3.根据权利要求2所述的指纹检测方法，其特征在于，基于多个加权系数矩阵将所述多个初始指纹图像叠加以得到目标指纹图像的步骤包括：获取每个子区域在所述多个初始指纹图像中对应的多组像素值；获取每个子区域在所述多个加权系数矩阵中对应的多个加权系数；将每个子区域在多个初始指纹图像中的多组像素值分别与之对应的加权系数相乘并叠加。4.根据权利要求2所述的指纹检测方法，其特征在于，获取与每个初始指纹图像对应的加权系数矩阵的步骤包括：测量多个子区域的指纹检测模组的厚度；以及基于每个子区域的指纹检测模组的厚度以及所述多个电路参数为每个子区域在所述多个加权系数阵列中对应分配多个加权系数，其中，每个子区域在所述多个加权系数阵列中的多个加权系数的和为1。5.根据权利要求2所述的指纹检测方法，其特征在于，获取与每个初始指纹图像对应的加权系数矩阵的步骤包括：获取测试物体的测试指纹图像，其中，所述测试物体为平整且可形变的物体；以及基于所述测试指纹图像的灰度图为每个子区域在所述多个加权系数阵列中对应分配多个加权系数，其中，每个子区域在所述多个加权系数阵列中的多个加权系数的和为1。6.根据权利要求2所述的指纹检测方法，其特征在于，根据指纹感测区域的厚度获取采集电路的多个电路参数的步骤包括：基于所述多个子区域的指纹检测模组的厚度获取多个电路参数，根据多个电路参数采集多个初始指纹图像的步骤包括：根据每个电路参数设置所述采集电路并采集得到对应的一个所述初始指纹图像。7.根据权利要求1所述的指纹检测方法，其特征在于，所述电路参数为包含采集电路的放大系数和偏移值。8.一种指纹检测装置，其特征在于，包括：封装层；涂层，覆盖所述封装层且表面包括指纹感测区域，所述涂层具有多个厚度；指纹检测芯片，封装在所述封装层中，包括电容式指纹传感器和处理器，所述电容式指纹传感器基于多个电路参数采集得到多组电容检测数据，所述处理器根据指纹感测区域的厚度获取采集电路的多个电路参数并提供至所述电容式传感器的采集电路，并将多组电容检测数据分别处理后得到多个初始指纹图像，所述处理器还获取与每个初始指纹图像对应的多个加权系数矩阵，以及基于所述多个加权系数矩阵将所述多个初始指纹图像叠加以得
到目标指纹图像。9.根据权利要求8所述的指纹检测装置，其特征在于，将所述涂层表面的指纹感测区域划分为多个子区域。10.根据权利要求9所述的指纹检测方法，其特征在于，所述处理器包括：处理单元，获取每个子区域在所述多个初始指纹图像中对应的多组像素值，以及获取每个子区域在所述多个加权系数矩阵中对应的多个加权系数；以及第一计算单元，将每个子区域在多个初始指纹图像中的多组像素值分别与之对应的加权系数相乘并叠加。11.根据权利要求9所述的指纹检测装置，其特征在于，所述处理器还包括：测量单元，控制测量多个子区域的指纹检测模组的厚度；以及第二计算单元，基于每个子区域的指纹检测模组的厚度以及所述多个电路参数为每个子区域在所述多个加权系数阵列中对应分配多个加权系数，其中，每个子区域在所述多个加权系数阵列中的多个加权系数的和为1。12.根据权利要求9所述的指纹检测装置，其特征在于，所述处理器还包括：第一控制单元，控制获取测试物体的测试指纹图像，其中，所述测试物体为平整且可形变的物体；以及第三计算单元，基于所述测试指纹图像的灰度图为每个子区域在所述多个加权系数阵列中对应分配多个加权系数，其中，每个子区域在所述多个加权系数阵列中的多个加权系数的和为1。13.根据权利要求9所述的指纹检测装置，其特征在于，所述处理器还包括：第二控制单元，基于所述多个子区域的指纹检测模组的厚度向所述电容式指纹传感器提供多个电路参数，并得到所述多个初始指纹图像。14.根据权利要求8所述的指纹检测装置，其特征在于，所述电路参数为包含采集电路的放大系数和偏移值。15.一种终端设备，其特征在于，包括如权利要求8-14任一项所述的指纹检测装置。

技术总结
本发明公开了一种指纹检测方法、装置及终端设备，包括：根据指纹感测区域的厚度获取采集电路的多个电路参数；根据多个电路参数采集多个初始指纹图像；提供与每个初始指纹图像对应的多个加权系数矩阵；以及基于多个加权系数矩阵将多个初始指纹图像叠加以得到目标指纹图像。本申请通过多组电路参数采集得到多个初始指纹图像，并根据加权值对多个初始指纹图像进行叠加计算获得质量更好的目标指纹图像，无需设计更复杂的采集电路即可解决因指纹检测装置的模组厚度不均匀造成的指纹图像质量不佳的技术问题。佳的技术问题。佳的技术问题。


技术研发人员：朱琳 田志民 王长海 宋子明 柯岩 陈世林 李保梁 冯继雄 刘奇 杨丽新
受保护的技术使用者：北京集创北方科技股份有限公司
技术研发日：2022.03.31
技术公布日：2022/7/29