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通过显示器的深度测量的制作方法

2022-07-14 03:36:18 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种显示装置(110),包括:-至少一个照射源(114),其被配置用于在至少一个场景上投射包括多个照射特征的至少一个照射图案;-至少一个光学传感器(118),其具有至少一个光敏区(120),其中,所述光学传感器(118)被配置用于确定至少一个第一图像(112),所述第一图像(122)包括响应于由所述照射特征的照射而由所述场景产生的多个反射特征;-至少一个半透明显示器(112),其被配置用于显示信息,其中,所述照射源(114)和所述光学传感器(118)被放置在所述显示器(112)前面的所述照射图案的传播方向上;-至少一个评估装置(124),其中,所述评估装置(124)被配置用于评估所述第一图像(122),其中,所述第一图像(122)的所述评估包括识别所述第一图像(122)的所述反射特征和关于亮度对所识别的反射特征进行分类,其中,所述反射特征中的每一个包括至少一个束轮廓,其中,所述评估装置(124)被配置用于通过分析它们的束轮廓来确定针对所述反射特征中的每一个的至少一个纵向坐标z
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,其中,所述评估装置(124)被配置用于通过使用纵向坐标z
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将反射特征与对应的照射特征明确地匹配,其中,所述匹配通过从最亮的反射特征开始降低所述反射特征的亮度来执行,其中,所述评估装置(124)被配置用于将与照射特征匹配的反射特征分类为真实特征,并且将与照射特征不匹配的反射特征分类为虚假特征,其中,所述评估装置(124)被配置用于拒绝所述虚假特征并且用于通过使用所述纵向坐标z
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来产生针对所述真实特征的深度图。2.根据前一权利要求所述的显示装置(110),其中,所述评估装置(124)被配置用于使用三角测量和/或离焦深度和/或结构光技术确定针对所述反射特征中的每一个的至少一个第二纵向坐标z
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。3.根据前一权利要求所述的显示装置(110),其中,所述评估装置(124)被配置用于确定所述第二纵向坐标z
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和所述纵向坐标z
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的组合纵向坐标,其中,所述组合纵向坐标是所述第二纵向坐标z
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和所述纵向坐标z
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的平均值,其中,所述组合纵向坐标被用于产生所述深度图。4.根据前述权利要求中的任一项所述的显示装置(110),其中,所述照射源(114)包括至少一个激光投射器,其中,所述激光投射器包括至少一个激光源和至少一个衍射光学元件(doe)。5.根据前述权利要求中的任一项所述的显示装置(110),其中,所述照射源(114)被配置用于产生至少一个光束,所述至少一个光束具有从所述照射源(114)穿过所述显示器(112)到所述场景的束路径,其中,所述显示器(112)被配置用于用作光栅,使得所述光束经历导致所述照射图案的所述显示器的衍射。6.根据前一权利要求所述的显示装置(110),其中,所述显示器(112)的布线被配置用于形成所述光栅的间隙和/或狭缝和脊。7.根据前述权利要求中的任一项所述的显示装置(110),其中,所述照射图案包括周期性点图案。8.根据前述权利要求中的任一项所述的显示装置(110),其中,所述照射图案具有低点密度,其中,所述照射图案具有≤2500个点每视场。
9.根据前述权利要求中的任一项所述的显示装置(110),其中,所述评估装置(124)被配置用于通过使用光子比率测距技术来确定针对所述反射特征中的每一个的束轮廓信息。10.根据前述权利要求中的任一项所述的显示装置(110),其中,所述光学传感器(118)包括至少一个cmos传感器。11.根据前述权利要求中的任一项所述的显示装置(110),其中,所述显示装置(110)包括进一步的照射源(138),其中,所述进一步的照射源(138)包括至少一个发光二极管(led)。12.根据前一权利要求所述的显示装置(110),其中,所述进一步的照射源(138)被配置用于产生所述可见光谱范围内的光。13.根据前述两项权利要求中的任一项所述的显示装置(110),其中,所述光学传感器(118)被配置用于确定包括所述场景的至少一个二维图像的至少一个第二图像,其中,所述进一步的照射源(138)被配置用于为所述第二图像的成像提供附加照射。14.根据前一权利要求所述的显示装置(110),其中,所述评估装置(124)被配置用于通过用光栅函数g对所述第二图像i进行去卷积来确定至少一个校正图像i0,其中,i=i0*g。15.一种用于通过半透明显示器(112)进行深度测量的方法,其中,使用根据前述权利要求中的任一项所述的至少一个显示装置(110),其中,所述方法包括以下步骤:a)通过使用至少一个照射源(114)在至少一个场景上投射包括多个照射特征的至少一个照射图案,其中,所述照射源(114)被放置在所述显示器(112)前面的照射图案的传播方向上;b)通过使用至少一个光学传感器(118),确定至少一个第一图像(112),所述第一图像(112)包括响应于由所述照射特征的照射而由所述场景产生的多个反射特征,其中,所述光学传感器(118)具有至少一个光敏区(120),其中,所述光学传感器(118)被放置在所述显示器(112)前面的所述照射图案的传播方向上,其中,所述反射特征中的每一个包括至少一个束轮廓;c)通过使用至少一个评估装置(124)评估所述第一图像(122),其中,所述评估包括以下子步骤:c1)识别所述第一图像(122)的所述反射特征并关于亮度对所识别的反射特征进行分类,c2)通过分析它们的束轮廓来确定针对反射特征中的每一个的至少一个纵向坐标z
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;c3)通过使用所述纵向坐标z
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将反射特征与对应的照射特征明确地匹配,其中,所述匹配通过从最亮的反射特征开始降低所述反射特征的亮度来执行,c4)将与照射特征匹配的反射特征分类为真实特征,并且将与照射特征不匹配的反射特征分类为虚假特征;c5)拒绝所述虚假特征并且用于通过使用所述纵向坐标z
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来产生针对所述真实特征的深度图。16.一种根据涉及显示装置的前述权利要求中的任一项所述的显示装置(110)的用途,出于使用的目的,选自包括以下各项的组:交通技术中的位置测量;娱乐应用;安保应用;监督应用;安全应用;人机接口应用;跟踪应用;摄影应用;成像应用或相机应用;用于产生至少一个空间的地图的地图构建应用;用于车辆的归航或跟踪信标检测器;室外应用;移动应
用;通信应用;机器视觉应用;机器人应用;质量控制应用;制造应用。

技术总结
提出了一种显示装置(110)。所述显示装置(110)包括:-至少一个照射源(114),其被配置用于在至少一个场景上投射包括多个照射特征的至少一个照射图案;-至少一个光学传感器(118),其具有至少一个光敏区(120),其中,所述光学传感器(118)被配置用于确定至少一个第一图像(112),所述第一图像(122)包括响应于由所述照射特征的照射而由所述场景产生的多个反射特征;-至少一个半透明显示器(112),其被配置用于显示信息,其中,所述照射源(114)和所述光学传感器(118)被放置在所述显示器(112)前面的所述照射图案的传播方向上;-至少一个评估装置(124),其中,所述评估装置(124)被配置用于评估所述第一图像(122),其中,所述第一图像(122)的所述评估包括识别所述第一图像(122)的所述反射特征和关于亮度对所识别的反射特征进行分类,其中,所述反射特征中的每一个包括至少一个束轮廓,其中,所述评估装置(124)被配置用于通过分析它们的束轮廓来确定针对所述反射特征中的每一个的至少一个纵向坐标z


技术研发人员:P
受保护的技术使用者:特里纳米克斯股份有限公司
技术研发日:2020.11.26
技术公布日:2022/7/12
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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