用于无线电接入网数据收集的装置的制作方法

技术特征：
1.一种装置，包括用于以下操作的部件：配置针对第一数据生产者处的一个或多个预定优化问题的测量收集；向所述第一数据生产者发送第一测量请求，其中所述第一测量请求指示针对所述一个或多个预定优化问题的一个或多个所请求的测量、时间采样指示和粒度；接收包括第一测量结果的测量响应，所述第一测量结果对应于所述第一测量请求；以及向一个或多个优化算法提供所述第一测量结果，所述一个或多个优化算法用于解决所述一个或多个预定优化问题。2.根据权利要求1所述的装置，还包括：一个或多个机器学习算法，用于使用所述测量响应来解决所述一个或多个预定优化问题。3.根据任一项前述权利要求所述的装置，还包括用于以下操作的部件：从所述第一数据生产者接收关于数据可用性的指示，所述数据可用性有关所述一个或多个预定优化问题。4.根据任一项前述权利要求所述的装置，其中所述第一数据生产者是用户设备，测量从所述用户设备被请求。5.根据任一项前述权利要求所述的装置，还包括用于以下操作的部件：配置针对第二数据生产者处的一个或多个预定优化问题的测量收集；向所述第二数据生产者发送第二测量请求，其中所述第二测量请求指示针对所述一个或多个预定优化问题的一个或多个所请求的测量、时间采样指示和粒度；接收包括第二测量结果的测量响应，所述第二测量结果对应于所述第二测量请求；向一个或多个优化算法提供所述第二测量结果，所述一个或多个优化算法用于解决所述一个或多个预定优化问题。6.根据权利要求5所述的装置，其中所述第二测量请求至少部分地不同于所述第一测量请求。7.根据任一项前述权利要求所述的装置，还包括用于以下操作的部件：确定训练所述一个或多个优化算法的性能；基于所述一个或多个优化算法的所确定的所述性能，向所述第一数据生产者发送另外的测量请求，其中所述另外的测量请求至少部分地不同于所述第一测量请求。8.根据权利要求7所述的装置，其中所确定的所述性能低于预定阈值，所述另外的测量请求指示：-比所述第一测量请求中多的所请求的测量；和/或-时间采样指示，指示比所述第一测量请求中高的测量采样的频率；和/或-比所述第一测量请求中高的粒度。9.根据权利要求7所述的装置，其中所确定的所述性能高于预定阈值，所述另外的测量请求指示：-比所述第一测量请求中少的所请求的测量；和/或-从比所述第一测量请求中低的数目的ue请求数据；和/或-时间采样指示，指示比所述第一测量请求中低的测量采样的频率；和/或-比所述第一测量请求中低的粒度。
10.一种装置，包括用于以下操作的部件：接收针对一个或多个预定优化问题的测量收集的配置；接收第一测量请求，所述第一测量请求指示针对所述一个或多个预定优化问题的一个或多个所请求的测量、时间采样指示和粒度；根据所述第一测量请求执行所述一个或多个所请求的测量，和/或根据所述第一测量请求从一个或多个用户设备请求所述一个或多个所请求的测量；以及发送包括第一测量结果的测量响应，所述第一测量结果对应于所述第一测量请求。11.根据权利要求10所述的装置，还包括用于以下操作的部件：从所述一个或多个用户设备接收所述一个或多个所请求的测量。12.根据权利要求10或11所述的装置，还包括用于以下操作的部件：发送关于数据可用性的指示，所述数据可用性有关所述一个或多个预定优化问题。13.根据权利要求10至12中任一项所述的装置，还包括用于以下操作的部件：接收另外的测量请求，所述另外的测量请求至少部分地不同于所述第一测量请求。14.根据权利要求13所述的装置，其中所述另外的测量请求指示：-比所述第一测量请求中多的所请求的测量；和/或-时间采样指示，指示比所述第一测量请求中高的测量采样的频率；和/或-比所述第一测量请求中高的粒度。15.根据权利要求13所述的装置，其中所述另外的测量请求指示：-比所述第一测量请求中少的所请求的测量；和/或-从比所述第一测量请求中低的数目的ue请求数据；和/或-时间采样指示，指示比所述第一测量请求中低的测量采样的频率；和/或-比所述第一测量请求中低的粒度。16.根据任一项前述权利要求所述的装置，其中所述第一测量请求还包括对一个或多个用户设备的标识，所述测量从所述一个或多个用户设备被请求。17.根据权利要求16所述的装置，其中对所述一个或多个用户设备的所述标识基于一个或多个用户设备标识。18.根据权利要求16或17所述的装置，其中对所述一个或多个用户设备的所述标识基于对满足一个或多个预定义条件的一个或多个用户设备的选择。19.根据任一项前述权利要求所述的装置，其中所述时间采样指示用于指示以下一项或多项：-测量时段的开始和/或结束时间；-测量采样的频率；-测量采样的开始时间、结束时间和/或所述频率是基于事件的。20.根据任一项前述权利要求所述的装置，其中所述一个或多个所请求的测量包括以下一项或多项：移动状态估计(mse)/位置、无线电链路故障(rlf)/波束、随机接入信道(rach)竞争解决故障/资源/波束、#rach前导码/资源/波束。21.根据任一项前述权利要求所述的装置，其中所述部件包括至少一个处理器；以及至少一个存储器，所述至少一个存储器包括计算机程序代码，所述至少一个存储器和所述计算机程序代码被配置为与所述至少一个处理器一起引起所述装置的执行。
22.一种方法，包括配置针对第一数据生产者处的一个或多个预定优化问题的测量集合；向所述第一数据生产者发送第一测量请求，其中所述第一测量请求指示针对所述一个或多个预定优化问题的一个或多个所请求的测量、时间采样指示和粒度；接收包括第一测量结果的测量响应，所述第一测量结果对应于所述第一测量请求；以及向一个或多个优化算法提供所述第一测量结果，所述一个或多个优化算法用于解决所述一个或多个预定优化问题。23.根据权利要求22所述的方法，还包括通过一个或多个机器学习算法使用所述测量响应来解决所述一个或多个预定优化问题。24.根据权利要求22或23所述的方法，还包括：从所述第一数据生产者接收关于数据可用性的指示，所述数据可用性有关所述一个或多个预定优化问题。25.根据权利要求22至24中任一项所述的方法，其中所述第一数据生产者是用户设备，测量从所述用户设备被请求。26.根据权利要求22至25中任一项所述的方法，还包括：配置针对第二数据生产者处的一个或多个预定优化问题的测量收集；向所述第二数据生产者发送第二测量请求，其中所述第二测量请求指示针对所述一个或多个预定优化问题的一个或多个所请求的测量、时间采样指示和粒度；接收包括第二测量结果的测量响应，所述第二测量结果对应于所述第二测量请求；向一个或多个优化算法提供所述第二测量结果，所述一个或多个优化算法用于解决所述一个或多个预定优化问题。27.根据权利要求26所述的方法，其中所述第二测量请求至少部分地不同于所述第一测量请求。28.根据权利要求22至27中任一项所述的方法，还包括：确定训练所述一个或多个优化算法的性能；基于所述一个或多个优化算法的所确定的所述性能，向所述第一数据生产者发送另外的测量请求，其中所述另外的测量请求至少部分地不同于所述第一测量请求。29.根据权利要求28所述的方法，其中所确定的所述性能低于预定阈值，所述另外的测量请求指示：-比所述第一测量请求中多的所请求的测量；和/或-时间采样指示，指示比所述第一测量请求中高的测量采样的频率；和/或-比所述第一测量请求中高的粒度。30.根据权利要求28所述的方法，其中所确定的所述性能高于预定阈值，所述另外的测量请求指示：-比所述第一测量请求中少的所请求的测量；和/或-从比所述第一测量请求中低的数目的ue请求数据；和/或-时间采样指示，指示比所述第一测量请求中低的测量采样的频率；和/或-比所述第一测量请求中低的粒度。
31.一种方法，包括：接收针对一个或多个预定优化问题的测量收集的配置；接收第一测量请求，所述第一测量请求指示针对所述一个或多个预定优化问题的一个或多个所请求的测量、时间采样指示和粒度；根据所述第一测量请求执行所述一个或多个所请求的测量，和/或根据所述第一测量请求从一个或多个用户设备请求所述一个或多个所请求的测量；以及发送包括第一测量结果的测量响应，所述第一测量结果对应于所述第一测量请求。32.根据权利要求31所述的方法，还包括：从所述一个或多个用户设备接收所述一个或多个所请求的测量。33.根据权利要求31或32所述的方法，还包括：发送关于数据可用性的指示，所述数据可用性有关所述一个或多个预定优化问题。34.根据权利要求31至33中任一项所述的方法，还包括：接收另外的测量请求，所述另外的测量请求至少部分不同于所述第一测量请求。35.根据权利要求34所述的方法，其中所述另外的测量请求指示：-比所述第一测量请求中多的所请求的测量；和/或-时间采样指示，指示比所述第一测量请求中高的测量采样的频率；和/或-比所述第一测量请求中高的粒度。36.根据权利要求34所述的方法，其中所述另外的测量请求指示：-比所述第一测量请求中少的所请求的测量；和/或-从比所述第一测量请求中低的数目的ue请求数据；和/或-时间采样指示，指示比所述第一测量请求中低的测量采样的频率；和/或-比所述第一测量请求中低的粒度。37.根据权利要求22至36中任一项所述的方法，其中所述第一测量请求还包括对一个或多个用户设备的标识，所述测量从所述一个或多个用户设备被请求。38.根据权利要求37所述的方法，其中对所述一个或多个用户设备的所述标识基于一个或多个用户设备标识。39.根据权利要求37或38所述的方法，其中对所述一个或多个用户设备的所述标识基于对满足一个或多个预定义条件的一个或多个用户设备的选择。40.根据权利要求22至39中任一项所述的方法，其中所述时间采样指示用于指示以下一项或多项：-测量时段的开始和/或结束时间；-测量采样的频率；-测量采样的开始时间、结束时间和/或所述频率是基于事件的。41.根据权利要求22至40中任一项所述的方法，其中所述一个或多个所请求的测量包括以下一项或多项：移动状态估计(mse)/位置、无线电链路故障(rlf)/波束、随机接入信道(rach)竞争解决故障/资源/波束、#rach前导码/资源/波束。42.一种可选的非瞬态计算机可读介质，包括程序指令，所述程序指令在由至少一个处理器执行时使装置至少执行：配置针对第一数据生产者处的一个或多个预定优化问题的测量收集；
向所述第一数据生产者发送第一测量请求，其中所述第一测量请求指示针对所述一个或多个预定优化问题的一个或多个所请求的测量、时间采样指示和粒度；接收包括第一测量结果的测量响应，所述第一测量结果对应于所述第一测量请求；以及向一个或多个优化算法提供所述第一测量结果，所述一个或多个优化算法用于解决所述一个或多个预定优化问题。43.一种可选的非瞬态计算机可读介质，包括程序指令，所述程序指令在由至少一个处理器执行时使装置至少执行：接收针对一个或多个预定优化问题的测量收集的配置；接收第一测量请求，所述第一测量请求指示针对所述一个或多个预定优化问题的一个或多个所请求的测量、时间采样指示和粒度；根据所述第一测量请求执行所述一个或多个所请求的测量，和/或根据所述第一测量请求从一个或多个用户设备请求所述一个或多个所请求的测量；以及发送包括第一测量结果的测量响应，所述第一测量结果对应于所述第一测量请求。44.一种计算机程序，所述计算机程序被配置为使根据权利要求22至30和/或权利要求37至41中的至少一项的方法被执行。45.一种计算机程序，所述计算机程序被配置为使根据权利要求31至41中至少一项的方法被执行。

技术总结
提供了一种装置，包括用于以下操作的部件：配置针对第一数据生产者处的一个或多个预定优化问题的测量收集；向第一数据生产者发送第一测量请求，其中第一测量请求指示针对一个或多个预定优化问题的一个或多个请求测量、时间采样指示和粒度；接收包括第一测量结果的测量响应，该第一测量结果对应于第一测量请求；以及向一个或多个优化算法提供第一测量结果，该一个或多个优化算法用于解决一个或多个预定优化问题。定优化问题。定优化问题。


技术研发人员：A
受保护的技术使用者：诺基亚技术有限公司
技术研发日：2019.09.13
技术公布日：2022/4/26