用于测试集成天线的微电子器件的无线测试系统的制作方法

技术特征：
1.一种无线测试系统，其特征在于，包括：负载板，具有上表面和下表面；插槽，用于接收具有天线结构的被测器件dut，所述插槽设置在所述负载板的上表面上；处理器，用于拾取所述dut并且将所述dut传送到所述插槽，其中所述处理器包括用于保持和按压所述dut的按压部件；以及波导通道，所述波导通道具有靠近所述dut的天线结构的一端，所述波导通道至少设置在所述插槽和所述负载板中；其中，所述波导通道在所述负载板中没有形成空心孔。2.根据权利要求1所述的无线测试系统，其特征在于，所述波导通道设置在所述按压部件，所述插槽和所述负载板中。3.根据权利要求2所述的无线测试系统，其特征在于，在所述按压部件中的波导通道是中空的通孔，在所述插槽中的波导通道是中空的通孔。4.根据权利要求1所述的无线测试系统，其特征在于，进一步包括：空气净化盖，设置在所述负载板的下方，以限定填充室温干燥空气的内部空间。5.根据权利要求1所述的无线测试系统，其特征在于，所述波导通道的靠近所述dut的天线结构的一端具有喇叭形截面轮廓。6.根据权利要求1所述的无线测试系统，其特征在于，进一步包括：适配器，固定在所述负载板的下表面上，所述适配器通过同轴电缆与所述rf仪器电路连接，其中，所述波导通道的末端与所述适配器对准。

技术总结
本发明提供一种无线测试系统，包括：负载板，具有上表面和下表面，其中，所述负载板包括设置在所述负载板上的测试天线；插槽，用于接收具有天线结构的被测器件DUT，所述插槽设置在所述负载板的上表面上，其中，所述天线结构与所述测试天线相对应；处理器，用于拾取所述DUT并且将所述DUT传送到所述插槽，其中所述处理器包括用于保持和按压所述DUT的夹具，在测试期间，所述夹具被接地并且作为接地反射器，所述接地反射器对所述DUT的辐射场型进行反射，使得所述DUT的辐射场型从向上方向反转到朝向所述测试天线的向下方向。本发明技术方案可以减小DUT的天线结构与测试天线之间的路径损耗。损耗。损耗。


技术研发人员：刘志扬 施盈舟 吕彦儒 洪志铭 许瑞麟
受保护的技术使用者：联发科技股份有限公司
技术研发日：2019.04.09
技术公布日：2022/4/26