深度信息测量装置以及电子设备的制作方法

技术特征：
1.一种深度信息测量装置，其特征在于，包括：dtof传感器，发出照射到物体的红外光并接收反射的光，得到第一深度信息；结构光投射模组，向物体发出带有特征的结构光；结构光红外接收模组，接收物体的反射光，得到大于预设值的第二深度信息。2.根据权利要求1所述的深度信息测量装置，其特征在于，所述dtof传感器包括dtof的发射模块和dtof的接收模块，所述dtof的接收模块中spad数量少于2000个。3.根据权利要求2所述的深度信息测量装置，其特征在于，所述dtof的发射模块包括激光光源；所述激光光源的出光侧设有匀光片，用于将发出的光源均匀地打在被测物体上。4.根据权利要求2所述的深度信息测量装置，其特征在于，所述dtof的接收模块包括沿光路依次布置的成像透镜、红外窄带滤光片和带有spad面阵或sipm面阵的成像芯片。5.根据权利要求1所述的深度信息测量装置，其特征在于，所述深度信息测量装置还包括一彩色模组，用于接收物体反射的环境中的可见光生成彩色图像，以识别物体轮廓。6.根据权利要求1所述的深度信息测量装置，其特征在于，所述深度信息测量装置还包括一处理模块，在所述第一深度信息大于预设值时，启动所述结构光投射模组和结构光红外接收模组。7.根据权利要求1所述的深度信息测量装置，其特征在于，所述深度信息测量装置还包括一结构支架，所述dtof传感器、结构光投射模组和结构光红外接收模组固定在支架上。8.一种电子设备，其特征在于，包括可移动的设备主体，所述设备主体上具有如权利要求1-7任一项所述的深度信息测量装置。

技术总结
本实用新型公开一种深度信息测量装置，包括：dToF传感器，发出照射到物体的红外光并接收反射的光，得到第一深度信息；结构光投射模组，向物体发出带有特征的结构光；结构光红外接收模组，接收物体的反射光，得到大于预设值的第二深度信息。基于上述的深度信息测量装置，本实用新型还公开一种电子设备。本实用新型采用结构光模组在中远距离测量物体的深度信息，dToF传感器在近距离测量物体的深度信息，结合两种不同测量模式的优势，使得近距离和远距离全场景下都能精确地测量出物体的距离；进一步可采取有效的避障措施。进一步可采取有效的避障措施。进一步可采取有效的避障措施。


技术研发人员：陈驰 李安 张莉萍
受保护的技术使用者：深圳市安思疆科技有限公司
技术研发日：2021.11.04
技术公布日：2022/4/6