一种修正PCB介电常数模型的建立方法和修正方法及修正系统与流程

技术特征：
1.一种修正pcb介电常数模型的建立方法，其特征在于，包括步骤：通过阻抗测试获取pcb样品的介电常数测试结果；获取对应pcb样品阻抗线的实际参数，并根据实际参数获取介电常数反推结果；根据多个pcb样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正关系，建立修正pcb介电常数的修正模型。2.根据权利要求1所述的修正方法，其特征在于：所述阻抗测试为tdr测试阻抗。3.根据权利要求1所述的修正方法，其特征在于：所述实际参数包括切片阻抗线所获取的介质厚度，以及阻抗线的线宽和间距。4.根据权利要求1至3任一所述的修正方法，其特征在于，所述建立方法的步骤包括：设置标准线宽/间距，并根据阻抗线的实际参数获取标准线宽/间距的第一反推结果；根据多个pcb样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正关系，设置不同线宽/间距的反推结果与第一反推结果的关系公式；通过关系公式获取不同线宽/间距已进行修正的第二反推结果。5.根据权利要求4所述的修正方法，其特征在于：所述关系公式为dk
修正
＝dk
标准线宽/间距
n
×
(x-x
标
)，其中，dk
修正
为第二反推结果，dk
标准线宽/间距
为第一反推结果，n为调整系数，x为需要修正的线宽/间距的阻抗线线宽，x
标
为标准线宽/间距的阻抗线线宽。6.根据权利要求5所述的修正方法，其特征在于：所述标准线宽/间距为6mil/6mil，其阻抗线线宽为6；所述调整系数为0.07。7.根据权利要求5所述的修正方法，其特征在于：所述调整系数的设置步骤包括：根据多个pcb样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正百分比，形成基于多个pcb样品修正百分比的布局分散图；根据布局分散图中各分散点的分布情况，获取最密集分布百分比的轴线的数值作为调整系数。8.一种基于修正pcb介电常数模型的修正方法，其特征在于，包括步骤：将需要修正pcb的线宽/间距的数值，输入至如权利要求1至7任一所述的修正模型中；通过修正模型输出修正后的介电常数。9.一种修正系统，其特征在于：所述修正系统包括输入模块、输出模块和具有如权利要求1至7任一所述修正模型的修正模块，所述输入模块输入需要修正pcb的线宽/间距的数值，所述修正模块通过修正模型修正输入模块输入的数值，所述输出模块输出通过修正模型输出修正后的介电常数。

技术总结
本发明涉及PCB介电常数领域，具体涉及一种修正PCB介电常数模型的建立方法和修正方法及修正系统。所述建立方法包括步骤：通过阻抗测试获取PCB样品的介电常数测试结果；获取对应PCB样品阻抗线的实际参数，并根据实际参数获取介电常数反推结果；根据多个PCB样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正关系，建立修正PCB介电常数的修正模型。发明的有益效果在于，与现有技术相比，本发明建立修正模型，并将后续需要获取修正后介电常数的PCB的相关参数数据，输入至修正模型中，直接快捷方便获取所述PCB的已修正后的介电常数；同时，提供修正的准确性。提供修正的准确性。提供修正的准确性。


技术研发人员：张利华 刘诗涛 李一峰
受保护的技术使用者：深南电路股份有限公司
技术研发日：2020.08.20
技术公布日：2022/2/23