绝缘子污秽检测方法、装置、存储介质及程序产品与流程

本技术涉及电力，尤其涉及一种绝缘子污秽检测方法、装置、存储介质及程序产品。

背景技术：

1、在电力系统中，输电线路和变电站中的绝缘子长期暴露于自然环境中，表面容易沉积盐类、灰尘、工业粉尘等污秽物。当遇到雾、雨、凝露等潮湿环境时，污秽层可能形成导电水膜，降低绝缘子的耐受电压，进而引发污闪事故，影响电网中输变电设备的绝缘安全运行。因此，快速、准确地获取绝缘子表面污秽状态，对电网的安全运行具有重要意义。

2、相关技术中，主要采用激光诱导击穿光谱（laser-induced breakdownspectroscopy，libs）技术进行绝缘子污秽检测。具体地，libs技术通过激光烧蚀污秽层产生等离子体，通过分析等离子体的元素特征光谱，实现对绝缘子污秽的检测。然而，该检测方式存在可靠性差的问题。

技术实现思路

1、本技术提供一种绝缘子污秽检测方法、装置、存储介质及程序产品，用以提升绝缘子污秽检测的可靠性。

2、第一方面，本技术提供一种绝缘子污秽检测方法，包括：

3、获取待测绝缘子在当前受光条件下的动态视觉传感器dvs事件流，并根据dvs事件流，得到dvs事件流对应的等离子体事件图像；

4、根据dvs事件流和等离子体事件图像，结合当前受光条件对应的照度参数，生成当前受光条件对应的受光环境扰动表征量，受光环境扰动表征量用于表示当前受光条件对dvs事件触发和等离子体事件图像重构结果的影响程度；

5、根据受光环境扰动表征量和参考亮斑区域，对等离子体事件图像中等离子体主响应区域进行抗光照扰动修正，得到等离子体事件图像对应的等离子体主亮斑区域图像，参考亮斑区域是基于低扰动受光条件下的等离子体事件图像确定的；

6、从等离子体主亮斑区域图像中提取污秽特征，并根据污秽特征对待测绝缘子进行污秽检测。

7、在一种可能的实施方式中，根据dvs事件流和等离子体事件图像，结合当前受光条件对应的照度参数，生成当前受光条件对应的受光环境扰动表征量，包括：

8、基于受光条件和受光扰动相关参数的关联关系，确定当前受光条件下的受光扰动相关参数，受光扰动相关参数包括事件总数、on/off事件比例、背景事件比例、主亮斑区域面积、有效事件区域面积和图像能量集中度；

9、基于当前受光条件下的受光扰动相关参数，确定dvs事件流和等离子体事件图像在当前受光条件下的受光扰动相关参数值；

10、根据受光扰动相关参数值和当前受光条件对应的照度参数值，确定当前受光条件对应的受光环境扰动表征量。

11、在一种可能的实施方式中，受光条件和受光扰动相关参数的关联关系是通过以下方式确定的：

12、获取待测绝缘子在多个受光条件下的dvs事件流；

13、针对多个受光条件中的任一受光条件，根据受光条件下的dvs事件流，得到受光条件下dvs事件流对应的等离子体事件图像，并对受光条件下的dvs事件流和等离子体事件图像分别进行参数提取，得到受光条件的事件流统计特征和事件图像空间特征；根据事件流统计特征和事件图像空间特征，构建受光条件对应的事件参数集合，事件参数集合包括事件总数、on事件数量、off事件数量、on/off事件比例、背景事件比例、事件密度、有效事件区域面积、主亮斑区域面积和图像能量集中度；

14、根据多个受光条件分别对应的事件参数集合与照度参数，构成样本数据集；

15、基于样本数据集，对事件参数集合中各事件参数与照度参数进行相关性分析，得到各事件参数分别对应照度参数的相关系数，相关系数表征事件参数受照度参数的干扰程度；

16、根据相关系数，确定待测绝缘子在不同受光条件下的受光扰动相关参数，得到受光条件和受光扰动相关参数的关联关系。

17、在一种可能的实施方式中，根据受光扰动相关参数值和当前受光条件对应的照度参数值，确定当前受光条件对应的受光环境扰动表征量，包括：

18、对受光扰动相关参数值和当前受光条件对应的照度参数值进行归一化；

19、基于预先标定的加权系数，对归一化后的受光扰动相关参数值和照度参数值进行加权融合，确定当前受光条件对应的受光环境扰动表征量，加权系数是基于受光扰动相关参数在多个受光条件下随照度参数的变化规律确定的。

20、在一种可能的实施方式中，根据受光环境扰动表征量和参考亮斑区域，对等离子体事件图像中等离子体主响应区域进行抗光照扰动修正，得到等离子体事件图像对应的等离子体主亮斑区域图像，包括：

21、根据参考亮斑区域的位置与尺度，确定等离子体事件图像中等离子体主响应区域；

22、根据受光环境扰动表征量，确定背景扣除力度，并基于背景扣除力度对等离子体主响应区域进行背景扣除处理，得到处理后等离子体主响应区域，背景扣除力度与受光环境扰动表征量正相关；

23、提取处理后等离子体主响应区域内各像素对应的on事件响应计数和off事件响应计数，并对同一像素位置的on事件响应和off事件响应进行叠加融合，得到融合后等离子体主响应区域；

24、根据受光环境扰动表征量，确定约束校正强度，并基于约束校正强度，以参考亮斑区域为基准，对融合后等离子体主响应区域进行多维度约束校正，得到等离子体事件图像对应的等离子体主亮斑区域图像，多维度约束校正包含位置中心约束、尺度范围约束、轮廓边界约束和能量集中约束。

25、在一种可能的实施方式中，根据dvs事件流，得到dvs事件流对应的等离子体事件图像，包括：

26、将dvs事件流按预设时间窗口进行事件累积，并通过事件帧映射方式生成dvs事件流对应的事件帧，事件帧包括on事件帧、off事件帧和综合事件帧，综合事件帧包含on事件和off事件；

27、基于事件帧，得到dvs事件流对应的等离子体事件图像。

28、第二方面，本技术提供一种绝缘子污秽检测装置，包括：

29、获取模块，用于获取待测绝缘子在当前受光条件下的dvs事件流，并根据dvs事件流，得到dvs事件流对应的等离子体事件图像；

30、生成模块，用于根据dvs事件流和等离子体事件图像，结合当前受光条件对应的照度参数，生成当前受光条件对应的受光环境扰动表征量，受光环境扰动表征量用于表示当前受光条件对dvs事件触发和等离子体事件图像重构结果的影响程度；

31、修正模块，用于根据受光环境扰动表征量和参考亮斑区域，对等离子体事件图像中等离子体主响应区域进行抗光照扰动修正，得到等离子体事件图像对应的等离子体主亮斑区域图像，参考亮斑区域是基于低扰动受光条件下的等离子体事件图像确定的；

32、检测模块，用于从等离子体主亮斑区域图像中提取污秽特征，并根据污秽特征对待测绝缘子进行污秽检测。

33、在一种可能的实施方式中，生成模块具体用于：

34、基于受光条件和受光扰动相关参数的关联关系，确定当前受光条件下的受光扰动相关参数，受光扰动相关参数包括事件总数、on/off事件比例、背景事件比例、主亮斑区域面积、有效事件区域面积和图像能量集中度；

35、基于当前受光条件下的受光扰动相关参数，确定dvs事件流和等离子体事件图像在当前受光条件下的受光扰动相关参数值；

36、根据受光扰动相关参数值和当前受光条件对应的照度参数值，确定当前受光条件对应的受光环境扰动表征量。

37、在一种可能的实施方式中，受光条件和受光扰动相关参数的关联关系是通过以下方式确定的：

38、获取待测绝缘子在多个受光条件下的dvs事件流；

39、针对多个受光条件中的任一受光条件，根据受光条件下的dvs事件流，得到受光条件下dvs事件流对应的等离子体事件图像，并对受光条件下的dvs事件流和等离子体事件图像分别进行参数提取，得到受光条件的事件流统计特征和事件图像空间特征；根据事件流统计特征和事件图像空间特征，构建受光条件对应的事件参数集合，事件参数集合包括事件总数、on事件数量、off事件数量、on/off事件比例、背景事件比例、事件密度、有效事件区域面积、主亮斑区域面积和图像能量集中度；

40、根据多个受光条件分别对应的事件参数集合与照度参数，构成样本数据集；

41、基于样本数据集，对事件参数集合中各事件参数与照度参数进行相关性分析，得到各事件参数分别对应照度参数的相关系数，相关系数表征事件参数受照度参数的干扰程度；

42、根据相关系数，确定待测绝缘子在不同受光条件下的受光扰动相关参数，得到受光条件和受光扰动相关参数的关联关系。

43、在一种可能的实施方式中，生成模块在根据受光扰动相关参数值和当前受光条件对应的照度参数值，确定当前受光条件对应的受光环境扰动表征量时，具体用于：

44、对受光扰动相关参数值和当前受光条件对应的照度参数值进行归一化；

45、基于预先标定的加权系数，对归一化后的受光扰动相关参数值和照度参数值进行加权融合，确定当前受光条件对应的受光环境扰动表征量，加权系数是基于受光扰动相关参数在多个受光条件下随照度参数的变化规律确定的。

46、在一种可能的实施方式中，修正模块具体用于：

47、根据参考亮斑区域的位置与尺度，确定等离子体事件图像中等离子体主响应区域；

48、根据受光环境扰动表征量，确定背景扣除力度，并基于背景扣除力度对等离子体主响应区域进行背景扣除处理，得到处理后等离子体主响应区域，背景扣除力度与受光环境扰动表征量正相关；

49、提取处理后等离子体主响应区域内各像素对应的on事件响应计数和off事件响应计数，并对同一像素位置的on事件响应和off事件响应进行叠加融合，得到融合后等离子体主响应区域；

50、根据受光环境扰动表征量，确定约束校正强度，并基于约束校正强度，以参考亮斑区域为基准，对融合后等离子体主响应区域进行多维度约束校正，得到等离子体事件图像对应的等离子体主亮斑区域图像，多维度约束校正包含位置中心约束、尺度范围约束、轮廓边界约束和能量集中约束。

51、在一种可能的实施方式中，获取模块具体用于：

52、将dvs事件流按预设时间窗口进行事件累积，并通过事件帧映射方式生成dvs事件流对应的事件帧，事件帧包括on事件帧、off事件帧和综合事件帧，综合事件帧包含on事件和off事件；

53、基于事件帧，得到dvs事件流对应的等离子体事件图像。

54、第三方面，本技术提供一种电子设备，包括：存储器，处理器；

55、存储器存储计算机执行指令；

56、处理器执行存储器存储的计算机执行指令，使得处理器执行如上第一方面和/或第一方面各种可能的实施方式。

57、第四方面，本技术提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，计算机执行指令被例如处理器等设备执行时用于实现如上第一方面和/或第一方面各种可能的实施方式。

58、第五方面，本技术提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，计算机程序被例如处理器等设备执行时实现如上第一方面和/或第一方面各种可能的实施方式。

59、本技术提供的绝缘子污秽检测方法、装置、存储介质及程序产品，通过获取待测绝缘子在当前受光条件下的dvs事件流，并根据dvs事件流，得到dvs事件流对应的等离子体事件图像，从数据层面保障检测信息的真实性。根据dvs事件流和等离子体事件图像，结合当前受光条件对应的照度参数，生成当前受光条件对应的受光环境扰动表征量，受光环境扰动表征量用于表示当前受光条件对dvs事件触发和等离子体事件图像重构结果的影响程度，实现对光照扰动的精细化定量评估。根据受光环境扰动表征量和参考亮斑区域，对等离子体事件图像中等离子体主响应区域进行抗光照扰动修正，得到等离子体事件图像对应的等离子体主亮斑区域图像，参考亮斑区域是基于低扰动受光条件下的等离子体事件图像确定的，使不同受光条件下的畸变等离子体亮斑均能收敛至主亮斑区域，有效抑制光照扰动导致的特征偏差，提升不同光照条件下等离子体亮斑表征的鲁棒性与一致性。从等离子体主亮斑区域图像中提取污秽特征，并根据污秽特征对待测绝缘子进行污秽检测，提升绝缘子污秽检测的可靠性。