基于双光标定的电器元件自动测温方法、装置及电子设备与流程

摘要: 本发明涉及电力设备温度检测,尤其涉及基于双光标定的电器元件自动测温方法、装置及电子设备。背景技术:1、整流滤波设备(包括整流柜及滤波装置)正常运行对于保障电解铝...
基于双光标定的电器元件自动测温方法、装置及电子设备与流程

本发明涉及电力设备温度检测,尤其涉及基于双光标定的电器元件自动测温方法、装置及电子设备。

背景技术:

1、整流滤波设备(包括整流柜及滤波装置)正常运行对于保障电解铝动力系统安全运行至关重要,因此需要对整流滤波设备的电器元件进行测温巡检。

2、目前,测温巡检的方式为现场人工巡检,需每班次安排两人进行测温巡检活动。整流滤波设备作为动力系统测温点最为集中的设备,需耗用大量工时对其进行测温巡检,温度巡检效率低。

技术实现思路

1、本发明提供了一种基于双光标定的电器元件自动测温方法、装置及电子设备,以解决目前整流滤波设备温度巡检效率低的问题。

2、根据本发明的一方面,提供了一种基于双光标定的电器元件自动测温方法,包括:

3、根据电器元件区域的可见光图像进行电器元件识别,得到目标电器元件及其元件像素坐标,所述目标电器元件为所述可见光图像中的任意一个待测电器元件;

4、根据电器元件区域的红外图像确定所述电器元件区域的温度矩阵;

5、根据所述可见光图像和所述红外图像进行像素级配准;

6、根据所述目标电器元件的元件像素坐标和配准后的所述温度矩阵进行映射,得到所述目标电器元件在所述温度矩阵中对应的坐标空间;

7、根据所述坐标空间检测所述目标电器元件的温度信息。

8、根据本发明的另一方面,提供了基于双光标定的电器元件自动测温装置,包括:

9、电器元件识别模块,用于根据电器元件区域的可见光图像进行电器元件识别,得到目标电器元件及其元件像素坐标,所述目标电器元件为所述可见光图像中的任意一个待测电器元件;

10、温度矩阵确定模块,用于根据电器元件区域的红外图像确定所述电器元件区域的温度矩阵;

11、图像配准模块,用于根据所述可见光图像和所述红外图像进行像素级配准;

12、坐标映射模块,用于根据所述目标电器元件的元件像素坐标和配准后的所述温度矩阵进行映射,得到所述目标电器元件在所述温度矩阵中对应的坐标空间;

13、温度检测模块,用于根据所述坐标空间检测所述目标电器元件的温度信息。

14、根据本发明的另一方面,提供了一种电子设备,所述电子设备包括:

15、至少一个处理器;以及

16、与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,

17、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序,所述计算机程序被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的基于双光标定的电器元件自动测温方法。

18、根据本发明的另一方面,提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的基于双光标定的电器元件自动测温方法。

19、本发明实施例的技术方案根据电器元件区域的可见光图像进行电器元件识别,得到目标电器元件及其元件像素坐标;根据电器元件区域的红外图像确定所述电器元件区域的温度矩阵;根据所述可见光图像和所述红外图像进行像素级配准;根据所述目标电器元件的元件像素坐标和配准后的所述温度矩阵进行映射,得到所述目标电器元件在所述温度矩阵中对应的坐标空间;根据所述坐标空间检测所述目标电器元件的温度信息。相对于目前人工巡检的测温效率低问题,本发明实施例提供的技术方案能够首先根据整流滤波设备的可见光图像识别目标电器元件,实现自动化的准确识别可见光图像中的电器元件。然后,将整流滤波设备的红外图像和可见光图像进行像素级配准,进而能够实现红外图像和可见光图像的坐标映射,得到可见光图像中目标电器元件在红外图像中的坐标空间,进而确定目标电器元件的温度,实现自动对目标电器元件进行测温,提高整流滤波设备的温度巡检效率。

20、应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

1.一种基于双光标定的电器元件自动测温方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求书1所述的方法,其特征在于,根据电器元件区域的可见光图像进行电器元件识别,得到目标电器元件及其元件像素坐标,包括:

3.根据权利要求书2所述的方法,其特征在于,在将电器元件区域的可见光图像输入至元件识别模型之前,还包括:

4.根据权利要求书1所述的方法,其特征在于,根据所述可见光图像和所述红外图像进行像素级配准,包括:

5.根据权利要求书4所述的方法,其特征在于,根据所述目标电器元件的元件像素坐标和配准后的所述温度矩阵进行映射,得到所述目标电器元件在所述温度矩阵中对应的坐标空间,包括:

6.根据权利要求书5所述的方法,其特征在于,根据所述坐标空间检测所述目标电器元件的温度信息,包括:

7.根据权利要求书1所述的方法,其特征在于,在根据电器元件区域的可见光图像进行电器元件识别,得到目标电器元件及其元件像素坐标之前,还包括:

8.一种基于双光标定的电器元件自动测温装置,其特征在于,包括:

9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的基于双光标定的电器元件自动测温方法。