一种面向半导体批量工艺管理的轻量化Seq2Seq推理部署系统和方法与流程
本发明属于智能制造系统,具体涉及面向半导体企业erp系统的轻量化工艺批量生成与检测部署系统。
背景技术:
1、半导体制造企业每周需生成、校验数万条工艺流程,对系统的处理吞吐量、响应速度、部署成本有严格要求。
2、现有大参数量nlp模型(如bert类、大语言模型)虽具备一定文本理解能力,但存在模型体积大、训练周期长、推理延迟高、部署算力成本高的问题,无法匹配产线批量处理的吞吐量要求;且外部api依赖会带来数据安全风险与稳定性问题。
技术实现思路
1、本发明旨在克服上述缺陷,在满足工艺生成与错误检测准确率要求的前提下,实现低算力成本、低延迟、高吞吐量的生产级部署,提供了一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统和方法,该系统适配企业现有sap等erp系统架构。
2、本发明提供了一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统,其特征在于:包含工艺流生成与错误检测推理模块;
3、工艺流生成与错误检测推理模块,包含工艺生成子模块和错误检测子模块;
4、其中,工艺生成子模块,针对输入的产品信息、设计信息与生产约束,输出合规的工序代码;
5、错误检测子模块,针对输入的存量或新生成的工序代码,识别缺失工序、错误工序代码、无效序列、参数不匹配及其他偏离标准的异常。
6、进一步地,本发明提供的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统,其特征还在于:
7、工艺流生成与错误检测推理模块以seq2seq模型为基础。
8、进一步地,本发明提供的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统,其特征还在于:
9、工艺流生成与错误检测推理模块对接erp系统。
10、进一步地,本发明提供的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统,其特征还在于:
11、工艺流生成与错误检测推理模块支持批量工艺处理。
12、进一步地,本发明提供的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统,其特征还在于:
13、采用四层分层架构,自下而上依次为数据层、nlp引擎层、集成层、应用层:
14、其中,工业文本轻量化域适配模块、工艺流生成与错误检测推理模块部署于nlp引擎层;
15、工业文本轻量化域适配模块,实现领域语义归一化与特征增强;
16、工艺流生成与错误检测推理模块,生成工艺流程,并将生成的流程与已经存在的流程对比,实现工艺生成任务和错误检测;
17、数据层统一管理输入源数据与历史数据,并对异构数据进行统一格式化;
18、集成层,提供api接口对接sap系统,支持定时后台任务调度,实现批量工艺生成与校验;
19、应用层,提供web端交互界面,支持工艺生成、校验、人工复核功能,配置角色权限管控。
20、此外,本发明提供的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署方法,其特征在于,包含如下步骤:
21、基于seq2seq生成工艺流,同步校验工序异常。
22、进一步地,本发明提供的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署方法,其特征还在于:
23、工艺流的生成方法为:基于输入的产品信息、设计信息与生产约束,按照半导体工艺规则,输出合规的工序代码有序序列。
24、进一步地,本发明提供的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署方法,其特征还在于:
25、错误检测的方法为:基于输入的存量或新生成的工艺流,识别缺失工序、错误工序代码、无效序列、参数不匹配等偏离标准的异常。
26、进一步地,本发明提供的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署方法,其特征还在于:
27、错误检测的步骤为:
28、s1.对工艺流编码进行理解;
29、s2.与预设/学到的标准工艺规律、顺序、约束对比;
30、s3.对每一道工序、每一段序列计算合规概率,低于阈值判断为异常或直接对比每一道工序、每一段序列的合规性,当不符合时判定为异常。
31、本发明作用和效果:
32、本发明的系统部署成本低,模型体积小,无需高额算力投入,可直接部署于企业现有标准服务器基础设施。
33、本发明的系统处理效率高,单条推理约1秒,支持批量调度,可满足每周数万条的生产处理需求。
34、本发明的系统数据安全可控,模型本地化部署,无需调用外部大模型api,避免生产核心数据外泄风险。
35、本发明的系统落地便捷,可通过标准化api快速对接现有sap系统,不改变企业原有生产管理流程。
1.一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统,其特征在于:包含工艺流生成与错误检测推理模块;
2.如权利要求1所述的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统,其特征在于:
3.如权利要求1所述的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统,其特征在于:
4.如权利要求1所述的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统,其特征在于:
5.如权利要求1所述的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署系统,其特征在于:
6.一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署方法,其特征在于,包含如下步骤:
7.如权利要求6所述的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署方法,其特征在于:
8.如权利要求6所述的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署方法,其特征在于:
9.如权利要求6所述的一种面向半导体批量工艺管理的轻量化seq2seq推理部署方法,其特征在于:
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