一种OLED面板Demura补偿方法及系统与流程

本发明涉及显示，尤其涉及一种oled面板demura补偿方法及系统。

背景技术：

1、在oled面板的生产过程中，通常采用彩色相机或黑白相机对特定显示画面（如500nit l64、70nit l16、2nit l32等不同亮度与灰阶组合的画面）进行拍照，并通过驱动集成电路（driver ic）对拍摄图像进行色亮度平衡处理，以实现显示均匀性校正。现有技术中，同一型号产品的所有面板均采用统一的demura算法进行优化。

2、然而，由于oled面板制造过程中蒸镀工艺的中心-边缘效应，大板不同位置的面板在膜厚、阈值电压vth、亚阈值摆幅ss等参数上存在差异。采用统一的demura算法对所有面板进行补偿时，会导致特性较好的面板出现过度补偿，而特性较差的面板则补偿不足，进而引发部分面板的显示视效异常，影响产品良率。

技术实现思路

1、为克服上述现有技术的不足，本发明提供了一种oled面板demura补偿方法及系统，可针对性地对所有面板采用分区自动demura流程，膜厚、电性差异较大的区域提前识别并进行分区调试，demura生产过程中对id进行识别并调用不同版本的拍照/补偿参数，可快速有效对所有特性的面板进行视效补偿且无需增加设备/工时。

2、为实现上述目的，本发明的一个或多个实施例提供了如下技术方案：

3、第一方面，本发明提供了一种oled面板demura补偿方法，包括：

4、获取oled面板的多维度特性数据，将所述多维度特性数据整合为多维度特性数据矩阵；

5、对所述多维度特性数据矩阵进行自适应聚类，得到最优分区数量、分区边界和各分区的特性统计参数；

6、基于各分区的特性统计参数，分别计算各分区的亮度补偿系数和拍照参数，建立各分区的补偿参数集；

7、基于所述分区边界，对所述补偿参数集中相邻分区边界处的补偿参数采用距离加权线性插值方法进行平滑过渡处理，得到全板补偿参数矩阵；

8、为各分区分配唯一标识，将所述唯一标识与所述全板补偿参数矩阵中对应分区的补偿参数建立映射关系并存储。

9、进一步的技术方案，所述多维度特性数据包括膜厚分布数据、电性参数数据、亮度均匀性数据和色度均匀性数据。

10、进一步的技术方案，得到最优分区数量、分区边界和各分区的特性统计参数，具体包括：

11、对多维度特性数据矩阵中各维度数据分别进行归一化处理，得到归一化后的多维度特性数据；

12、采用k-means聚类算法对归一化后的多维度特性数据进行聚类，自动确定最优分区数量，得到聚类结果；

13、根据聚类结果确定各分区的边界坐标，并统计各分区内的膜厚、电性参数、亮度均匀性和色度均匀性的特性统计参数。

14、进一步的技术方案，引入分区置信度评估机制，对聚类结果中的分区进行可靠性量化评估。

15、进一步的技术方案，建立各分区的补偿参数集，具体包括：

16、以各分区的亮度均匀性数据为基础，采用亮度补偿模型分别计算各分区的亮度补偿系数，将各分区面板按网格划分，对每个网格独立计算补偿参数，并对不同灰阶下的补偿参数进行分段线性拟合，得到各分区的亮度补偿系数矩阵；

17、根据各分区的膜厚和电性参数特性差异，分别确定各分区的差异化拍照参数，包括曝光时间、增益和测试画面配置；

18、将各分区的亮度补偿系数矩阵与拍照参数汇总，形成各分区的补偿参数集。

19、进一步的技术方案，所述亮度补偿模型表示为：

20、

21、其中，为位置处补偿后的输出亮度值，为位置处的原始输入亮度值，为目标均匀化亮度基准值，为位置处的实测亮度值。

22、进一步的技术方案，得到全板补偿参数矩阵，具体包括：

23、基于所述分区边界确定相邻分区之间的边界过渡区域；

24、对所述边界过渡区域内的各像素点，根据其到相邻两个分区中心的距离分别计算对应的权重系数；

25、基于所述权重系数对补偿参数集中相邻两个分区的补偿参数进行加权线性插值，得到所述边界过渡区域内各像素点的过渡补偿值；

26、将所述边界过渡区域内各像素点的过渡补偿值与各分区核心区域的补偿参数合并，得到全板补偿参数矩阵。

27、第二方面，本发明提供了一种oled面板demura补偿系统，包括：

28、数据获取模块，其被配置为：获取oled面板的多维度特性数据，将所述多维度特性数据整合为多维度特性数据矩阵；

29、分区决策模块，其被配置为：对所述多维度特性数据矩阵进行自适应聚类，得到最优分区数量、分区边界和各分区的特性统计参数；

30、补偿参数生成模块，其被配置为：基于各分区的特性统计参数，分别计算各分区的亮度补偿系数和拍照参数，建立各分区的补偿参数集；

31、边界平滑模块，其被配置为：基于所述分区边界，对所述补偿参数集中相邻分区边界处的补偿参数采用距离加权线性插值方法进行平滑过渡处理，得到全板补偿参数矩阵；

32、id映射模块，其被配置为：为各分区分配唯一标识，将所述唯一标识与所述全板补偿参数矩阵中对应分区的补偿参数建立映射关系并存储。

33、第三方面，本发明提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如第一方面所述的一种oled面板demura补偿方法中的步骤。

34、第四方面，本发明提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如第一方面所述的一种oled面板demura补偿方法中的步骤。

35、以上一个或多个技术方案存在以下有益效果：

36、本发明通过采用自适应聚类算法替代人工预设固定分区方案，能够根据面板实际特性数据自动确定最优分区数量和边界，适应不同批次工艺能力的变化；通过在相邻分区边界处引入距离加权线性插值方法实现补偿参数平滑过渡，消除区域边界的补偿突变；通过实时监测面板特性数据并在超出阈值时自动触发补偿参数重新调试流程，实现自学习优化，进一步提升补偿精度；通过面板id与补偿参数版本的映射机制，在不增加额外设备投入和生产工时的前提下，实现对各种特性面板的快速精准补偿，显著提升产品良率和显示均匀性。

37、本发明附加方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

1.一种oled面板demura补偿方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的一种oled面板demura补偿方法，其特征在于，所述多维度特性数据包括膜厚分布数据、电性参数数据、亮度均匀性数据和色度均匀性数据。

3.如权利要求1所述的一种oled面板demura补偿方法，其特征在于，得到最优分区数量、分区边界和各分区的特性统计参数，具体包括：

4.如权利要求3所述的一种oled面板demura补偿方法，其特征在于，引入分区置信度评估机制，对聚类结果中的分区进行可靠性量化评估。

5.如权利要求1所述的一种oled面板demura补偿方法，其特征在于，建立各分区的补偿参数集，具体包括：

6.如权利要求5所述的一种oled面板demura补偿方法，其特征在于，所述亮度补偿模型表示为：

7.如权利要求1所述的一种oled面板demura补偿方法，其特征在于，得到全板补偿参数矩阵，具体包括：

8.一种oled面板demura补偿系统，其特征在于，包括：

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的一种oled面板demura补偿方法中的步骤。

10.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的一种oled面板demura补偿方法中的步骤。