测试方法以及测试装置与流程

摘要: 本公开涉及测试方法以及测试装置。背景技术:1、在专利文献1中公开了包含u相线圈、v相线圈以及w相线圈的dc马达的驱动电路。专利文献1所记载的驱动电路包含三相逆变...
测试方法以及测试装置与流程

本公开涉及测试方法以及测试装置。

背景技术:

1、在专利文献1中公开了包含u相线圈、v相线圈以及w相线圈的dc马达的驱动电路。专利文献1所记载的驱动电路包含三相逆变器。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:日本特开2022-134631号公报

技术实现思路

1、本公开的一个实施方式涉及一种测试装置以及测试方法,其能够简单地测试具备多个相的电力转换装置的相间的振荡状态。

2、本公开的测试方法具备:准备测试电路的准备工序,所述测试电路具有:第一串联电路,其通过在与直流电源部电连接的高电位线和低电位线之间串联连接第一高侧开关部和第一低侧开关部而形成;第二串联电路,其通过在所述高电位线与所述低电位线之间串联连接第二高侧开关部和第二低侧开关部而形成,并且在所述高电位线与所述低电位线之间与所述第一串联电路并联连接;电容器,其连接在所述高电位线和所述低电位线之间,使从所述直流电源部供给的直流电压平滑化;以及感应性负载,其将所述第一高侧开关部与所述第一低侧开关部的连接线和所述第二高侧开关部与所述第二低侧开关部的连接线连接,所述第一高侧开关部具有并联连接的多个第一高侧晶体管,所述第一低侧开关部具有并联连接的多个第一低侧晶体管,所述第二高侧开关部具有并联连接的多个第二高侧晶体管,所述第二低侧开关部具有并联连接的多个第二低侧晶体管;驱动工序,通过第一驱动信号驱动所述第一高侧开关部和所述第一低侧开关部中的一方的开关部即第一驱动对象开关部,通过第二驱动信号驱动所述第二高侧开关部和所述第二低侧开关部中的关于高侧和低侧与所述第一驱动对象开关部不同侧的开关部即第二驱动对象开关部,所述第一驱动信号是具有第一脉冲和所述第一脉冲的后级的第二脉冲的双脉冲型的驱动信号,所述第二驱动信号是具有第三脉冲的单脉冲型的驱动信号,所述第三脉冲的上升定时在所述第一脉冲内;以及监视工序,监视所述第一高侧开关部和所述第一低侧开关部中的与所述第一驱动对象开关部不同的开关部的电压,并且,监视所述第二驱动对象开关部的电压,将所述第二脉冲的上升定时与所述第三脉冲的下降定时之间的时间差设为干扰时间,一边调整所述干扰时间,一边实施所述驱动工序和所述监视工序,由此取得在所述第二驱动对象开关部产生振荡的条件。

1.一种测试方法,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,

4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的测试方法,其特征在于,

5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的测试方法,其特征在于,

6.根据权利要求1至5中的任意一项所述的测试方法,其特征在于,

7.根据权利要求1至6中的任意一项所述的测试方法,其特征在于,

8.根据权利要求1至7中的任意一项所述的测试方法,其特征在于,

9.一种测试装置,其特征在于,

10.根据权利要求9所述的测试装置,其特征在于,

11.根据权利要求9或10所述的测试装置,其特征在于,

12.根据权利要求9或10所述的测试装置,其特征在于,

13.根据权利要求9至12中的任意一项所述的测试装置,其特征在于,