一种多型号ATE测试设备的协议自适应转换方法与流程

摘要: 本发明涉及半导体自动化测试设备管理,具体涉及一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法。背景技术:1、在现代半导体制造与集成电路测试环节中,ate测试设备用于...
一种多型号ATE测试设备的协议自适应转换方法与流程

本发明涉及半导体自动化测试设备管理,具体涉及一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法。

背景技术:

1、在现代半导体制造与集成电路测试环节中,ate测试设备用于对各类半导体芯片进行功能验证和性能测试。随着芯片种类的不断丰富和测试需求的日益复杂,半导体测试工厂和osat厂商通常需要同时部署来自多型号异构、多类架构的ate设备,以满足soc、存储器、功率器件等不同芯片类型的测试需求。

2、现有多型号异构ate测试设备管理主要存在以下突出缺陷:

3、第一,不同型号异构的ate设备采用各具特色的专有私有通信协议,导致设备之间及设备与管理平台之间存在严重的异构性。部分外部高端ate采用专属高速通信网络架构,支持高速数据连接、嵌入式运算以及实时板卡间通讯;另一类外部高端多站点ate采用自有标准接口搭配专属链路连接技术,同时配套行业适配接口规范;内部低端ate则普遍采用自主开发的实时总线架构进行各板卡之间的高速数据交互。各类私有协议的架构、报文格式、交互逻辑差异极大,造成设备间互操作困难、无法集中纳入统一管理。

4、第二,不同型号异构ate设备产生的测试数据在格式上也存在较大差异。芯片测试包含晶圆探针测试和最终测试,生产批次多、测试数据量大。行业内stdf为通用测试数据格式标准,但不同型号异构基于stdf做了差异化私有扩展;同时大量现役设备仍采用各自自定义二进制或文本数据格式。semi a4 tems标准虽已发布并致力于建立厂商中立的消息化数据采集方式,但普及度低,现有管理平台缺少异构数据自动归一转换能力。

5、第三,现有管理平台缺乏对多型号异构、多类型ate设备的统一接入和集中监控能力。测试工厂同时部署低压数字、大电流功率、rf、模拟混合信号等多类ate设备,由于型号异构和架构异构,设备档案、维护记录、运行历史数据分散在多个独立系统中,无法实现全局统一设备管理、资源统筹调度。

6、第四,现有技术在测试程序跨平台移植方面存在不足。不同架构ate设备的数据格式、信号特征、时序规则差异显著,测试程序跨设备复用往往需要重新开发调试;现有少量程序转化技术仅聚焦代码层面转换,未从协议接入、数据归一、平台管控层面提供完整支撑,落地性差。

7、因此,亟需一种能够实现多型号异构ate测试设备统一接入、集中管理和数据整合的技术方案,降低多型号异构ate设备的运维成本和集成复杂度,提升设备管理效率。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法,以解决上述技术问题。

2、本发明的目的可以通过以下技术方案实现:

3、一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法,包括以下步骤:

4、s1、构建协议自适应转换引擎,所述协议自适应转换引擎内置可插拔式厂商协议适配器集群与协议自动识别模块;

5、s2、针对不同型号异构ate测试设备的私有专有通信协议,分别配置独立协议适配器;

6、s3、设备接入时通过协议自动识别模块自动探测设备品类、硬件型号及通信协议类型,动态加载匹配的协议适配器,完成私有协议报文解析、指令封装与双向通信交互;

7、s4、协议自适应转换引擎将各适配器解析得到的设备运行状态、板卡参数、测试任务信息及下发控制指令,统一归一映射为平台内部标准消息格式;

8、s5、搭建数据格式标准化模块,识别解析各型号异构ate输出的原始测试数据,并将解析后的数据统一转换为标准化消息结构;

9、s6、在统一管理平台为每台接入ate测试设备建立唯一身份标识的全生命周期设备档案,实现多品类ate设备集中建档。

10、作为本发明进一步的方案:所述s2中,配置独立协议适配器具体包括:

11、适配内部ate设备实时总线私有协议的第一类协议适配器、适配外部soc ate设备专属通信网络协议的第二类协议适配器、适配外部多站点并行ate设备标准接口及专属链路规范的第三类协议适配器。

12、作为本发明进一步的方案:所述s4中,包括标准restful api和标准http json消息格式。

13、作为本发明进一步的方案:所述s5中的原始测试数据包括stdf标准格式、各型号异构stdf扩展格式及型号异构自定义二进制/文本测试数据格式;

14、所述标准化消息结构为符合semi a4 tems规范的消息结构。

15、作为本发明进一步的方案:所述s6中,全生命周期设备档案主要包括:归档存储设备基础信息、硬件配置参数、板卡清单、固件/驱动版本、校准维护记录、故障告警日志及历史运行性能数据。

16、作为本发明进一步的方案:所述ate测试设备包括soc测试系统、存储器测试系统和功率器件测试系统,适用于半导体芯片晶圆探针测试与成品测试场景。

17、作为本发明进一步的方案:还包括测试程序跨平台迁移步骤:

18、预先构建多品类ate测试程序特征库,读取待迁移测试程序配置文件;

19、比对不同设备通道映射、时序参数、电源序列、向量格式差异,自动生成差异对照表与迁移适配指引,完成测试程序跨设备调试复用。

20、作为本发明进一步的方案:当新增型号/类型ate设备接入时,需要新增对应协议适配器接入适配器集群。

21、本发明的有益效果:

22、1、实现多品类ate私有协议归一化自适应接入:针对内部实时总线、外部专属通信网络、外部标准接口链路三类主流私有协议,构建可插拔适配架构,支持设备自动探测、动态加载适配器,无需人工干预,实现异构协议向平台标准接口的无损映射。

23、2、前瞻性兼容semi国际标准:将多型号异构测试数据自动转换为semi a4 tems规范消息结构,支持json/protobuf双格式输出,可无缝对接工厂mes、eap、良率分析平台,解决跨设备、跨系统数据互通难题。

24、3、构建多型号异构设备全生命周期统一档案体系:打破多型号异构设备数据孤岛,集中归档硬件、固件、维护、运行全维度信息,支持全局可视化监控、远程管控与批量任务编排,大幅降低集群运维与集成成本。

25、4、支持跨平台测试程序辅助迁移:通过构建多品类ate特征库,自动识别设备时序、信号、向量格式差异,输出迁移适配建议,降低测试程序重新开发调试成本,提升测试资产复用率。

26、5、架构模块化可扩展,后续新增型号或类型ate设备,仅需新增对应协议适配器即可快速接入,通用性和工程落地性强。

1.一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法,其特征在于,所述s2中,配置独立协议适配器具体包括:

3.根据权利要求1所述的一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法,其特征在于,所述s4中,包括标准restful api和标准http json消息格式。

4.根据权利要求1所述的一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法,其特征在于,所述s5中的原始测试数据包括stdf标准格式、各型号异构stdf扩展格式及型号异构自定义二进制/文本测试数据格式;

5.根据权利要求1所述的一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法,其特征在于,所述s6中,全生命周期设备档案主要包括:归档存储设备基础信息、硬件配置参数、板卡清单、固件/驱动版本、校准维护记录、故障告警日志及历史运行性能数据。

6.根据权利要求1所述的一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法,其特征在于,所述ate测试设备包括soc测试系统、存储器测试系统和功率器件测试系统,适用于半导体芯片晶圆探针测试与成品测试场景。

7.根据权利要求1所述的一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法,其特征在于,还包括测试程序跨平台迁移步骤:

8.根据权利要求1所述的一种多型号ate测试设备的协议自适应转换方法,其特征在于,当新增型号/类型ate设备接入时,需要新增对应协议适配器接入适配器集群。