FLASH芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质与流程

摘要: 本申请涉及存储,具体涉及一种flash芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质。背景技术:1、实际应用中,闪存芯片也称为闪存盘(flash),其为一种移动存储产...
FLASH芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质与流程

本申请涉及存储,具体涉及一种flash芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质。

背景技术:

1、实际应用中,闪存芯片也称为闪存盘(flash),其为一种移动存储产品,具体可用于存储任何格式的数据文件,因为其便于随身携带,因此,也被誉为是个人的“数据移动中心”。目前来看,flash芯片的测试较为机械化,因此,如何提升flash芯片的测试的智能性的问题亟待解决。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种flash芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质,可以提升flash芯片的测试的智能性。

2、第一方面,本申请实施例提供一种flash芯片的测试方法,应用于电子设备,所述电子设备包括flash芯片;所述方法包括:

3、获取所述flash芯片的第一测试环境参数;

4、获取所述flash芯片的测试参数和参考测试结果参数;

5、根据所述第一测试环境参数和所述测试参数对所述flash芯片进行多次测试,得到多个测试结果参数;

6、根据所述多个测试结果参数确定第一测试结果参数;

7、确定所述第一测试结果参数与所述参考测试结果参数之间的第一偏离度;

8、在所述第一偏离度处于第一预设范围时,确定所述flash芯片测试合格。

9、第二方面,本申请实施例提供了一种flash芯片的测试系统,应用于电子设备,所述电子设备包括flash芯片;所述系统包括:

10、获取单元,用于获取所述flash芯片的第一测试环境参数;获取所述flash芯片的测试参数和参考测试结果参数;

11、测试单元,用于根据所述第一测试环境参数和所述测试参数对所述flash芯片进行多次测试,得到多个测试结果参数;

12、确定单元,用于根据所述多个测试结果参数确定第一测试结果参数;确定所述第一测试结果参数与所述参考测试结果参数之间的第一偏离度;在所述第一偏离度处于第一预设范围时,确定所述flash芯片测试合格。

13、第三方面,本申请实施例提供一种电子设备,包括处理器、存储器、通信接口以及一个或多个程序,其中,上述一个或多个程序被存储在上述存储器中,并且被配置由上述处理器执行,上述程序包括用于执行本申请实施例第一方面中的步骤的指令。

14、第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,其中,上述计算机可读存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序,其中,上述计算机程序使得计算机执行如本申请实施例第一方面中所描述的部分或全部步骤。

15、第五方面,本申请实施例提供了一种计算机程序产品,其中,上述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质,上述计算机程序可操作来使计算机执行如本申请实施例第一方面中所描述的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包。

16、实施本申请实施例,具备如下有益效果:

17、可以看出,本申请实施例中所描述的flash芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质,应用于电子设备,所述电子设备包括flash芯片;获取所述flash芯片的第一测试环境参数;获取所述flash芯片的测试参数和参考测试结果参数;根据所述第一测试环境参数和所述测试参数对所述flash芯片进行多次测试,得到多个测试结果参数;根据所述多个测试结果参数确定第一测试结果参数;确定所述第一测试结果参数与所述参考测试结果参数之间的第一偏离度;在所述第一偏离度处于第一预设范围时,确定所述flash芯片测试合格,如此,可以基于第一测试环境参数、测试参数进行多次测试,以确定第一测试结果参数(实际测试结果),再基于第一测试结果参数与参考测试结果参数(预期测试结果)之间的第一偏离度来检验flash芯片测试合格是否合格,在第一偏离度处于第一预设范围时,则说明flash芯片测试合格,进而,可以提升flash芯片的测试的智能性。

1.一种flash芯片的测试系统,其特征在于,应用于电子设备,所述电子设备包括flash芯片;所述系统包括:

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,在所述获取所述flash芯片的测试参数和参考测试结果参数方面,所述获取单元具体用于:

3.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于,每一测试结果参数对应一个测试时刻,每一测试结果参数对应的测试时刻的实际测试环境参数与所述第一测试环境参数之间的第二偏离度处于第二预设范围;

4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,在所述根据所述均值、所述第一调节参数和所述第一微调参数确定所述第一测试结果参数方面,所述确定单元具体用于:

5.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述系统还具体用于:

6.一种flash芯片的测试方法,其特征在于,应用于电子设备,所述电子设备包括flash芯片;所述方法包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述获取所述flash芯片的测试参数和参考测试结果参数,包括:

8.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,每一测试结果参数对应一个测试时刻,每一测试结果参数对应的测试时刻的实际测试环境参数与所述第一测试环境参数之间的第二偏离度处于第二预设范围;

9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、存储器、通信接口,以及一个或多个程序,所述一个或多个程序被存储在所述存储器中,并且被配置由所述处理器执行,所述程序包括用于执行如权利要求6-8任一项所述的方法中的步骤的指令。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储用于电子数据交换的计算机程序,其中,所述计算机程序使得计算机执行如权利要求6-8任一项所述的方法。