射频通路损耗测量方法、系统、设备、存储介质及产品与流程

本申请实施例涉及电子，特别涉及一种射频通路损耗测量方法、系统、设备、存储介质及产品。

背景技术：

1、在电子领域，射频通路损耗测量是确保系统性能、可靠性的关键环节；在相关技术中，进行射频通路损耗测量时需要依赖特殊设备，如具有网络分析功能的测量仪表、或者经过校准的“金机”，这些方法或精度低、或测量完成后需要重新组装环境导致损耗出现偏差，局限性较强，且通用性较差。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种射频通路损耗测量方法、系统、设备、存储介质及产品，可以解决射频通路损耗检测通用性较差、稳定差、测量完成后由于重组通路导致损耗改变的技术问题。该技术方案如下。

2、一方面，提供了一种射频通路损耗测量方法，所述方法包括：

3、建立测试仪表与短路板之间的n组通信连接，每组通信连接对应的通路组合不同；所述短路板上的天线测试座的布局与对应芯片上的天线布局相匹配；其中，n≥3且n的取值与所述短路板上部署的天线测试座的数量一致；

4、对于每组通信连接，基于第一测试信号与第二测试信号，得到对应通信连接的通信损耗，所述第一测试信号是所述测试仪表通过所述通路组合中的第一待测量射频通路向所述短路板发送的测试信号，所述第二测试信号是所述测试仪表通过所述通路组合中的第二待测量射频通路接收的经所述短路板返回的测试信号；

5、基于所述n组通信连接各自对应的通信损耗，计算各个待测量射频通路的损耗值。

6、另一方面，提供了一种射频通路损耗测量系统，所述系统包括损耗测量设备、测试仪表以及短路板；所述短路板上的天线测试座的布局与对应芯片上的天线布局相匹配；

7、所述测试仪表与所述短路板之间通过通路组合建立有n组通信连接，n≥3且n的取值与所述短路板上部署的天线测试座的数量一致；

8、所述损耗测量设备用于获取所述测试仪表通过每组通信连接发送的第一测试信号，以及，所述测试仪表接收的经过所述短路板返回的第二测试信号，并基于所述n组通信连接各自对应的通信损耗，计算各个待测量射频通路的损耗值。

9、另一方面，提供了一种计算机设备，所述计算机设备包含处理器和存储器，所述存储器存储有至少一条计算机程序，所述至少一条计算机程序由所述处理器加载并执行以实现上述的射频通路损耗测量方法。

10、另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有至少一条计算机程序，所述计算机程序由处理器加载并执行以实现上述的射频通路损耗测量方法。

11、另一方面，提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，使所述计算机执行以实现上述各种可选实现方式中提供的射频通路损耗测量方法。

12、本申请实施例提供的射频通路损耗测量方法，通过建立测试仪表与短路板之间的多组不同通信连接，测试每组通信连接中由测试仪表通过第一待测量射频通路向短路板发送的第一测试信号以及测试仪表通过第二待测量射频通路接收的经过短路板返回的第二测试信号，以确定各组通信连接的通信损耗，并基于多组通信连接各自对应的通信损耗，计算各个待测量射频通路的损耗值；在上述方法中，通过测试仪表的收发功能进行射频通路损耗的测试，可以降低对特殊设备的依赖性，提高了射频通路测试的通用性和稳定性；此外，通过多通路结合测试，可以提高测试效率。

13、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

1.一种射频通路损耗测量方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通信损耗包括仪表内部通信损耗，短路板内部通信损耗，以及总射频通路损耗；

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述建立测试仪表与短路板之间的n组通信连接，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测量射频通路为有线通路，或者，所述待测量射频通路为屏蔽环境下的无线通路。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述短路板的数量小于3的情况下，所述短路板中配置有开关组件，所述开关组件用于控制所述短路板中在同一时刻同一天线测试座最多与一个天线测试座连接。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述短路板的数量大于等于3的情况下，每个短路板中包含至少一个天线测试座分组，每个天线测试座分组中包含3个天线测试座；对于每个天线测试座，每个短路板内配置有一种连接关系，且不同短路板中同一天线测试座分组内的各个天线测试座的连接关系不同，所述连接关系用于指示在同一时刻同一天线测试座最多与同组内的一个天线测试座连接。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，对于短路板中未构成天线测试座分组的剩余天线测试座，在任一短路板中建立有所述剩余天线测试座与任一天线测试座分组中未连接的天线测试座之间的连接关系。

8.一种射频通路损耗测量系统，其特征在于，所述系统包括损耗测量设备、测试仪表以及短路板；所述短路板上的天线测试座的布局与对应芯片上的天线布局相匹配；

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述系统还包括目标夹具，所述目标夹具部署在所述短路板与所述测试仪表之间，与所述测试仪表建立有n组通信连接，与所述短路板之间建立有电性连接；

10.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储器存储有至少一条计算机程序，所述至少一条计算机程序由所述处理器加载并执行以实现如权利要求1至7任一所述的射频通路损耗测量方法。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有至少一条计算机程序，所述计算机程序由处理器加载并执行以实现如权利要求1至7任一所述的射频通路损耗测量方法。

12.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，使所述计算机执行以实现求如权利要求1至7任一所述的射频通路损耗测量方法。