电子元器件可靠性的预计方法、装置、设备、存储介质和程序产品与流程

本技术涉及电子元器件，特别是涉及一种电子元器件可靠性的预计方法、装置、设备、存储介质和程序产品。

背景技术：

1、随着电子装备集成度和复杂度不断提高，高可靠、长寿命成为了电子元器件研制中的核心需求。然而，可靠性并不是在电子元器件成型后通过测试就能赋予的，而是需要从设计阶段就开始进行系统构建。为了在设计阶段就能预估电子元器件未来的可靠性水平，可靠性预计手段就成为了电子元器件在设计阶段进行评估操作和保障可靠性的主要手段之一。该技术能够在电子元器件的设计初期为可靠性指标论证、指标分配、设计方案比较以及任务可靠度评估等提供理论依据。

2、在传统实践中，电子元器件的可靠性预计主要依赖各类官方发布的预计手册。这些预计手册针对不同类型的电子元器件给出了标准化的预计模型和参数取值，工程师只需要按照预计手册中的预计模型和参数即可开展有关电子元器件失效率的评估工作。长期以来，各国政府和研究机构均以此类预计手册为依据，指导本国的电子元器件可靠性的预计评估工作。

3、然而，这种传统方法存在明显的局限性。具体而言，随着新技术的不断应用和制造工艺的持续改进，电子元器件的实际可靠性水平在逐年提升。但预计手册的更新速度往往滞后于技术发展的步伐，预计手册发布越久，其中的基础数据就越容易偏离当前电子元器件的真实水平。在这种情况下，若仍套用过时的预计模型和参数取值来评估新型电子元器件的可靠性，所得出的失效率往往难以精确，进而可能误导电子产品的设计决策。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种电子元器件可靠性的预计方法、装置、设备、存储介质和程序产品。

2、第一方面，本技术提供了一种电子元器件可靠性的预计方法，包括：

3、获取同一类别的电子元器件在不同历史版本的可靠性预计手册中的失效率数据；

4、根据失效率数据，确定电子元器件的可靠性表征模型；

5、基于可靠性表征模型对最新版本的可靠性预计手册中的标准可靠性预计模型进行修正，得到修正后的可靠性预计模型；

6、根据目标电子元器件的时间参数和修正后的可靠性预计模型，确定目标电子元器件的预计失效率，时间参数表征目标电子元器件的生产时间信息。

7、在其中一个实施例中，根据失效率数据，确定电子元器件的可靠性表征模型，包括：

8、根据失效率数据与可靠性预计手册的发布时间和参考时间的关系，得到电子元器件的可靠性增长速率；

9、将可靠性增长速率代入预设的模型框架中，确定电子元器件的可靠性表征模型。在其中一个实施例中，根据失效率数据与可靠性预计手册的发布时间和参考时间的关系，得到电子元器件的可靠性增长速率，包括：

10、对不同历史版本的可靠性预计手册中的失效率数据及其发布时间进行统计；

11、以参考时间为基准，根据各发布时间与参考时间的时间间隔，对各失效率数据进行拟合分析，得到电子元器件的可靠性增长速率。

12、在其中一个实施例中，基于可靠性表征模型对可靠性预计手册中的标准可靠性预计模型进行修正，得到修正后的可靠性预计模型，包括：

13、将时间参数代入可靠性表征模型中，生成修正系数，修正系数表征电子元器件的可靠性随电子元器件的制造时间的变化；

14、根据修正系数，对可靠性预计手册中的标准可靠性预计模型进行修正，得到修正后的可靠性预计模型。

15、在其中一个实施例中，上述电子元器件可靠性的预计方法，还包括：

16、基于标准可靠性预计模型和修正后的可靠性预计模型，确定同一类别的电子元器件的第一预计失效率和第二预计失效率；

17、获取同一类别的电子元器件的制造商现场数据，并将制造商现场数据作为参考失效率；

18、根据第一预计失效率、第二预计失效率和参考失效率，确定修正后的可靠性预计模型的有效性。

19、在其中一个实施例中，根据第一预计失效率、第二预计失效率和参考失效率，确定修正后的可靠性预计模型的有效性，包括：

20、根据第一预计失效率和参考失效率，确定第一差值；

21、根据第二预计失效率和参考失效率，确定第二差值；

22、根据第一差值和第二差值，确定第一差值和第二差值的偏差值；

23、根据偏差值，确定修正后的可靠性预计模型的有效性。

24、第二方面，本技术还提供了一种电子元器件可靠性的预计装置，包括：

25、获取模块，用于获取同一类别的电子元器件在不同历史版本的可靠性预计手册中的失效率数据；

26、确定模块，用于根据失效率数据，确定电子元器件的可靠性表征模型；

27、修正模块，用于基于可靠性表征模型对最新版本的可靠性预计手册中的标准可靠性预计模型进行修正，得到修正后的可靠性预计模型；

28、失效模块，用于根据目标电子元器件的时间参数和修正后的可靠性预计模型，确定目标电子元器件的预计失效率，时间参数表征目标电子元器件的生产时间信息。

29、第三方面，本技术还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

30、获取同一类别的电子元器件在不同历史版本的可靠性预计手册中的失效率数据；

31、根据失效率数据，确定电子元器件的可靠性表征模型；

32、基于可靠性表征模型对最新版本的可靠性预计手册中的标准可靠性预计模型进行修正，得到修正后的可靠性预计模型；

33、根据目标电子元器件的时间参数和修正后的可靠性预计模型，确定目标电子元器件的预计失效率，时间参数表征目标电子元器件的生产时间信息。

34、第四方面，本技术还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

35、获取同一类别的电子元器件在不同历史版本的可靠性预计手册中的失效率数据；

36、根据失效率数据，确定电子元器件的可靠性表征模型；

37、基于可靠性表征模型对最新版本的可靠性预计手册中的标准可靠性预计模型进行修正，得到修正后的可靠性预计模型；

38、根据目标电子元器件的时间参数和修正后的可靠性预计模型，确定目标电子元器件的预计失效率，时间参数表征目标电子元器件的生产时间信息。

39、第五方面，本技术还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

40、获取同一类别的电子元器件在不同历史版本的可靠性预计手册中的失效率数据；

41、根据失效率数据，确定电子元器件的可靠性表征模型；

42、基于可靠性表征模型对最新版本的可靠性预计手册中的标准可靠性预计模型进行修正，得到修正后的可靠性预计模型；

43、根据目标电子元器件的时间参数和修正后的可靠性预计模型，确定目标电子元器件的预计失效率，时间参数表征目标电子元器件的生产时间信息。

44、上述电子元器件可靠性的预计方法、装置、设备、存储介质和程序产品，通过获取同一类别的电子元器件在不同历史版本的可靠性预计手册中的失效率数据；根据失效率数据，确定电子元器件的可靠性表征模型；基于可靠性表征模型对最新版本的可靠性预计手册中的标准可靠性预计模型进行修正，得到修正后的可靠性预计模型；根据目标电子元器件的时间参数和修正后的可靠性预计模型，确定目标电子元器件的预计失效率，时间参数表征目标电子元器件的生产时间信息；上述方法不需要额外开展加速寿命试验或者收集现场维修数据，仅基于已有的历版手册数据即可完成对电子元器件的可靠性增长分析，大幅度降低了实施成本和时间周期；同时，通过引入可靠性增长表征模型，使得预计结果能够反映电子元器件随制造工艺进步而逐年提升的实际规律，避免了因手册数据滞后导致的预测偏差，为可靠性指标论证、设计方案比较及任务可靠度评估等提供了更准确的理论依据。