性能测试方法及相关设备与流程

本申请涉及测试，具体涉及一种性能测试方法及相关设备。

背景技术：

1、电子设备（例如，嵌入式设备等）在进行启动测试时，需要依赖测试人员通过观察设备屏幕的变化，手动记录设备的启动时间。由于存在人为主观判断的影响，上述测试方法极易产生较大的误差，特别是在毫秒级的精确计时的需求下，时间误差可能高达数秒。如此，在对设备启动时间等性能进行评估时，难以分辨测试误差是由于设备性能的波动引发时间差异，还是由于人工计时的不准确性导致的，如此导致测试结果缺乏可靠性，且难以保证一致性。

技术实现思路

1、鉴于以上内容，有必要提供一种性能测试方法、电子设备及计算机存储介质以解决因设备性能波动或延迟造成设备性能测试结果出现偏差的问题。

2、第一方面，本申请提供一种性能测试方法，所述方法包括：利用目标检测模型，识别输入到所述目标检测模型的检测图像中的待测设备的屏幕画面；从所述屏幕画面中确定第一目标屏幕画面及第二目标屏幕画面，及基于所述第一目标屏幕画面及所述第二目标屏幕画面确定输入到所述目标检测模型的检测图像的图像数量；基于所述检测图像所形成视频的帧率及所述图像数量，确定所述第一目标屏幕画面转换到所述第二目标屏幕画面的转变时间。

3、在本申请的一些实施例中，所述确定所述第一目标屏幕画面转换到所述第二目标屏幕画面的转变时间包括：基于所述图像数量与所述检测图像所形成视频的帧率之商，确定所述第一目标屏幕画面转换到所述第二目标屏幕画面的转变时间。

4、在本申请的一些实施例中，所述方法还包括：记录每一屏幕画面的索引号；基于所述第一目标屏幕画面的第一索引号及所述第二目标屏幕画面的第二索引号确定所述图像数量。

5、在本申请的一些实施例中，所述方法还包括：通过可编辑器件控制所述设备执行预设操作，所述预设操作包括开机、关机、重启和恢复出厂设置中的至少一种；基于所述帧率对所述待测设备的显示屏的显示画面进行拍摄，得到所述检测图像。

6、在本申请的一些实施例中，所述通过可编辑器件控制所述设备执行预设操作包括：通过所述可编辑器件向所述待测设备发送安卓调试桥adb命令，指示所述待测设备执行所述adb命令对应的预设操作。

7、在本申请的一些实施例中，所述可编辑器件为可编辑继电器。

8、在本申请的一些实施例中，所述方法还包括：存储转变时间；及定期清理存储的转变时间。

9、在本申请的一些实施例中，所述目标检测模型为yolov8模型。

10、第二方面，本申请提供一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器：所述存储器，用于存储程序指令；所述处理器，用于读取并执行所述存储器中存储的所述程序指令，当所述程序指令被所述处理器执行时，使得所述电子设备执行上述性能测试方法。

11、第三方面，本申请提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有程序指令，当所述程序指令被处理器执行时，实现上述性能测试方法。

12、本申请实施例基于检测图像所形成视频的帧率及输入到目标检测模型的检测图像的图像数量可以确定出第一目标屏幕画面转换到第二目标屏幕画面的转变时间，从而可以准确确定出待测设备执行目标事件所运行的时间，如此能够避免由于设备性能波动或延迟引发待测设备在执行目标事件时所测得的运行时间出现偏差的问题，确保计时的一致性。

1.一种性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述确定所述第一目标屏幕画面转换到所述第二目标屏幕画面的转变时间包括：

3.如权利要求1或2所述的性能测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

4.如权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

5.如权利要求4所述的性能测试方法，其特征在于，所述通过可编辑器件控制所述设备执行预设操作包括：

6.如权利要求5所述的性能测试方法，其特征在于，所述可编辑器件为可编辑继电器。

7.如权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

8.如权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述目标检测模型为yolov8模型。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器和处理器：

10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质中存储有程序指令，当所述程序指令被处理器执行时，实现如权利要求1至8中任一项所述的性能测试方法。