一种集成电路的失效分析方法、装置、电子设备与流程

摘要: 本申请属于计算机,具体涉及一种集成电路的失效分析方法、装置、电子设备及可读存储介质。背景技术:1、失效模式及效应分析(failuremodeandeffects...
一种集成电路的失效分析方法、装置、电子设备与流程

本申请属于计算机,具体涉及一种集成电路的失效分析方法、装置、电子设备及可读存储介质。

背景技术:

1、失效模式及效应分析(failure mode and effects analysis, fmea)是一种可靠性分析方法,广泛应用于集成电路等复杂产品的设计、制造与使用环节,旨在识别潜在的故障模式、评估其影响并制定预防措施,以提升产品质量与可靠性。

2、在进行fmea分析时,通常通过关键词在历史案例库中进行检索,以查找相似的失效案例作为参考。然而,由于微处理器等领域专业名词繁多,同一对象常存在多种指代方式,使得基于关键词确定历史案例的方法可能导致漏检或误检,导致检索结果的不准确,进而最终的分析结果也缺乏准确性。

技术实现思路

1、本申请实施例的目的是提供一种集成电路的失效分析方法、装置、电子设备及可读存储介质,能够提高确定失效案例的准确性,提升对集成电路的失效分析的准确性和速度。

2、第一方面,本申请实施例提供了一种集成电路的失效方法,该方法包括:

3、根据待分析集成电路的描述信息,从预设的数据库中确定与所述待分析集成电路对应的失效案例;

4、计算所述失效案例和所述描述信息在多个不同维度下各自的相似度,并根据多个所述维度下各自的相似度,计算所述失效案例的总相似度;

5、根据所述失效案例的所述总相似度,确定所述失效案例在显示界面上的排列次序;

6、对显示的所述失效案例进行分析,确定所述待分析集成电路的失效分析报告。

7、第二方面,本申请实施例提供了一种集成电路的失效装置,该装置包括:

8、案例获取模块,用于根据待分析集成电路的描述信息,从预设的数据库中确定与所述待分析集成电路对应的失效案例;

9、相似度计算模块,用于计算所述失效案例和所述描述信息在多个不同维度下各自的相似度,并根据多个所述维度下各自的相似度,计算所述失效案例的总相似度;

10、显示模块,用于根据所述失效案例的所述总相似度,确定所述失效案例在显示界面上的排列次序;

11、报告生成模块,用于对显示的所述失效案例进行分析,确定所述待分析集成电路的失效分析报告。

12、第三方面,本申请实施例提供了一种电子设备,该电子设备包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令,所述程序或指令被所述处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

13、第四方面,本申请实施例提供了一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储程序或指令,所述程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

14、第五方面,本申请实施例提供了一种芯片,所述芯片包括处理器和通信接口,所述通信接口和所述处理器耦合,所述处理器用于运行程序或指令,实现如第一方面所述的方法。

15、在本申请实施例中,通过根据描述信息从预先构建的数据库中确定失效案例集合,并基于多维度相似度计算对案例进行排序和显示,能够快速、准确地从海量历史数据中筛选出与当前失效相关的参考案例。并且,多维度相似度匹配能够更全面地考虑失效特征的各个方面,减少漏检和误检,提高检索准确性。通过根据总相似度确定失效案例在显示界面上的排列次序,以有序方式显示失效案例集合,优化了信息呈现结构,帮助用户快速定位最有价值的参考信息,减少信息筛选时间。通过对显示的失效案例集合进行分析并确定失效分析报告,能够基于相似历史案例的解决方案和分析思路,辅助生成当前失效的初步分析报告。

1.一种集成电路的失效分析方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据待分析集成电路的描述信息,从预设的数据库中确定与所述待分析集成电路对应的失效案例,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述第一文本数据和所述数据库中各个失效案例对应的第二文本数据进行匹配,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述相似度包括关键词相似度和矢量余弦相似度;所述计算所述失效案例和所述描述信息在多个不同维度下各自的相似度,并根据多个所述维度下各自的相似度,计算所述失效案例的总相似度,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述提取所述第一图片数据的第一图片摘要,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述失效案例的所述总相似度,确定所述失效案例在显示界面上的排列次序,包括:

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对显示的所述失效案例进行分析,确定所述待分析集成电路的失效分析报告,包括:

9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述数据库包括失效案例数据集和风险统计数据集,所述方法还包括:

10.一种集成电路的失效分析装置,其特征在于,所述装置包括:

11.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括有存储器,以及一个或者一个以上的程序,其中一个或者一个以上程序存储于存储器中,且经配置以由一个或者一个以上处理器执行如权利要求1至9中任一项所述的方法。

12.一种可读存储介质,其特征在于,当所述可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得所述处理器能够执行如权利要求1至9中任一项所述的方法。